• 【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A-3D 微型测量机 日本原装

  【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A-3D 微型测量机 日本原装【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A-3D 微型测量机 日本原装产品简介ET200A‑3D 为日本原装 3D 微细形状测量机，搭载电动 Y 轴工作台与 3D 解析软件，直动式检出器消除杠杆摆动带来系统误差，可完成二维轮廓、台阶高度、薄膜膜厚、微沟槽、三维表面粗糙度检测，兼容 JIS、ISO 国际标准。可输出彩色 3D 形貌

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• 【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A-D 微型测量机 日本原装

  【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A-D 微型测量机 日本原装【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A-D 微型测量机 日本原装产品简介ET200A‑D 是日本原装微细形状测量机，在 ET200A 基础搭载电动 Y 轴工作台，直动式检出器消除杠杆摆动产生的系统误差，可完成二维轮廓、台阶高度、薄膜厚度、微沟槽、表面粗糙度检测，同时支持多断面扫描实现简易 3D 形貌解析，兼容 JIS、ISO

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• 【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A 微型测量机 日本原装

  【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A 微型测量机 日本原装【高斯摩】KOSAKA小坂 ET200A 微型测量机 日本原装产品简介ET200A 为日本原装台式微细形状测量机，采用直动式检出器结构，消除杠杆摆动带来的系统误差，专注纳米级台阶高度、薄膜膜厚、微沟槽、表面粗糙度检测，兼容 JIS、ISO 多国测量标准。可选购电动 Y 轴升级为 ET200A‑D，加装组件实现 3D 形貌解析，适合半

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• 【高斯摩】KOSAKA小坂 NT1520微型测量机 日本原装

  【高斯摩】KOSAKA小坂 NT1520微型测量机 日本原装【高斯摩】KOSAKA小坂 NT1520微型测量机 日本原装产品简介NT1520 为日本原装直动式纳米接触式微型形貌测量机，采用无支点直动检出结构，消除传统杠杆式机构带来的角度误差，专注台阶高度、薄膜厚度、微沟槽、微观轮廓检测，可兼容 4/6/8 英寸晶圆样品，不依赖样品光学特性，测量数据可溯源，广泛用于半导体、MEMS、光学薄膜领域

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• 【高斯摩】KOSAKA小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机DSF-L800

  【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机DSF-L800【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机DSF-L800产品简介DSF‑L800 为日本原装数字式复合测量设备，单条扫描即可同时采集表面粗糙度与二维轮廓数据，搭载半导体激光光栅检出器，宽动态范围高精度检测，无需更换探头切换模式，兼容 JIS、ISO、DIN、ANSI、BS 多国标准，兼顾微观粗糙度评价与宏观几何

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• 【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF800-N

  【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF800-N【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF800-N

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• 【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF580A-G18D

  【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF580A-G18D【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF580A-G18D产品简介SEF580A‑G18D 为台式一体机，一台设备同时实现表面粗糙度检测与二维轮廓形状测量，属于复合测量机型。既可以检测 Ra、Rz 等粗糙度参数，又可测量圆弧、角度、台阶、沟槽等几何轮廓，兼容 JIS、ISO、DIN、ASME 国际

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• 【高斯摩】KOSAKA小坂 EF550A轮廓形状测量机 日本原装

  【高斯摩】KOSAKA小坂 EF550A轮廓形状测量机 日本原装【高斯摩】KOSAKA小坂 EF550A轮廓形状测量机 日本原装产品简介EF550A 为日本原装可搬型接触式轮廓形状测量机，分离式探头与控制器设计，安装摆放自由度高，兼顾实验室检测与产线现场使用。可完成工件二维轮廓、台阶高度、圆弧 R 角、角度、沟槽、凸轮外形检测，支持触针半径补偿、圆弧补偿，兼容 JIS、ISO 多国测量标准，可外接

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