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【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF580A-G18D

2026-09-04 16:08:01 admin 0

【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF580A-G18D

【高斯摩】KOSAKA 小坂 表面粗糙度与轮廓形状测量机SEF580A-G18D


产品简介

SEF580A‑G18D 为台式一体机,一台设备同时实现表面粗糙度检测与二维轮廓形状测量,属于复合测量机型。既可以检测 Ra、Rz 等粗糙度参数,又可测量圆弧、角度、台阶、沟槽等几何轮廓,兼容 JIS、ISO、DIN、ASME 国际标准,适配精密零部件多项目一体化检测,减少换设备的重复装夹,提升实验室与质检工位检测效率。

核心特点

1.X 轴最大扫描长度 100mm,Z 轴测量范围 18mm;X 轴直线度 1.0μm/100mm,采样点数最高 64000 点,支持粗糙度模式与轮廓模式一键切换。 2. 双模式测量,粗糙度模式输出各类粗糙度、波纹度参数;轮廓模式解析 R 角、角度、交点、台阶高度、沟槽宽度等几何尺寸。 3. 检出器配置过载防撞保护,触针碰撞瞬间自动停止,保护金刚石触针与工件;支持宏程序自动测量,可存储多套检测程序,实现批量工件连续检测。 4. 可更换多种金刚石触针,适配不同工件材质与测量工况;支持触针半径补偿,提升轮廓尺寸测量准确度。 5. 数据可导出,自定义报表模板,输出 PDF、Excel 格式检测报告;整机拓展性好,可选配电动 Y 轴工作台实现多截面连续测量。

应用领域

‑精密模具:模仁型腔粗糙度、R 角、台阶、沟槽轮廓复合检测 ‑机械加工:轴类、轴承、阀芯、密封件表面质量与截面轮廓测量 ‑汽车零部件:传动件、发动机配件、冲压件质检实验室检测 ‑光电半导体:精密基板、镀膜台阶、夹具零部件形貌检测 ‑科研计量:高校实验室、质检机构多指标一体化试样分析

使用注意事项

1. 被测工件表面清理干净,去除铁屑、毛刺、油污,防止划伤金刚石触针。 2. 定期使用粗糙度标准片、轮廓标准片分别校验,保证测量精度。 3. 运行自动宏程序,务必设置安全避让高度,避免探头撞击工件棱角。 4. 触针为精密损耗件,定期检查磨损情况,磨损超标及时更换。 5. 设备摆放于恒温、无振动环境,震动和温度波动会造成测量偏差。 6. 搬运移动主机,做好探头检出器防护,禁止磕碰摔落。 7. 长期停机做好防尘,导轨与传动机构按周期开展维护保养。

可以测量两种类型:“表面粗糙度”和“轮廓形状”。 通过触摸面板,它提供了出色的操作性,如切换测量条件,使得对各种工件进行快速测量。

  • 表面粗糙度测量

    • 单一测量可以分析不同标准的参数,使得向新标准的过渡更加顺畅。

  • 轮廓形状测量

    • 最大X轴测量采样可达64,000个点,支持高分辨率的长距离测量。

表面粗糙度

测量范围/分辨率Z:600微米/0.08纳米
送给速度0.02~10毫米/秒
R2μm 0.75mN或更小

轮廓形状

测量精度Z:±0.25%(我们的标准) X:±(1+0.02L)微米或更小
L:测量长度(mm)
测量范围尺寸:50毫米 X:100毫米
R25μm 10~30mN


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