新闻动态

  • 【高斯摩分享】 90% 封装都用它!引线键合技术全解析:工艺 + 参数 + 避坑指南,键合强度翻倍、良率提升 15%

    在半导体封装中是不是总被这些问题困扰?键合强度不够导致脱焊、细间距封装连不上、超声功率不当焊盘破裂、金属间化合物影响可靠性?作为半导体封装内部连接的 “主力军”—— 引线键合技术,承担了 90% 以上封装管脚的连接任务,工艺简单、成本低、适配性广,至今仍是主流选择!这篇干货把引线键合的核心工艺、两种关键形式、核心参数优化、材料设备选型、实操案例、避坑指南拆得明明白白,不管是半导体工艺工程师、生产管

    2026-02-02 admin 6

  • 【高斯摩分享】 硅片损伤检测封神指南!2 大类 10 种方法 + 选型攻略,超精密加工良率飙升 99%,避开破坏性检测坑

    在单晶硅片超精密加工中是不是总被一个 “隐形杀手” 困扰?表面看不见的微裂纹、位错、残余应力,最后导致芯片封装失效、良率暴跌;更扎心的是,选错检测方法 —— 要么破坏性检测浪费整片硅片,要么非破坏性检测精度不够漏检缺陷!作为半导体制造的 “质量守门人”,硅片表面 / 亚表面损伤检测直接决定芯片性能、寿命和量产良率,尤其是随着硅片直径增大、线宽缩小,对检测精度的要求更是达到微纳米级。今天这篇干货把硅

    2026-02-02 admin 3

  • 【高斯摩分享】DISCO 划片刀黑科技!磨粒分离强化技术实测:崩边大降 70%,6 英寸硅片切割良率飙升 99%

    在半导体划片生产中是不是总被一个 “顽疾” 困扰?周期性表面崩边、芯片边缘裂纹、大尺寸磨粒导致刀片报废…… 这些问题看似微小,却直接拉低硅片切割良率,甚至让整批次产品因崩边超标而报废!作为全球半导体划片设备与刀片巨头,DISCO 针对这个行业痛点,联合磨粒供应商研发出 “磨粒分离强化技术”,通过精准去除有害大尺寸磨粒,从源头解决周期性崩边问题,实测效果惊艳!今天这篇干货就带大家深度拆解这项技术:从

    2026-02-02 admin 9

  • 【高斯摩分享】 专利级硅片减薄攻略!分 3 步实现低缺陷量产,缺陷减少 80%+

    硅片减薄总遇到表面划痕、损伤层、漏电流超标?传统研磨要么效率低,要么缺陷多,还影响后续离子注入和封装良率!这份中国东方电气的发明专利干货,把 “分阶段研磨 + 湿法腐蚀” 的减薄方法拆得明明白白,不仅能批量生产,还能大幅减少表面缺陷,工艺工程师收藏起来,直接套用参数就能落地!一、核心亮点:为啥这方法能申请专利?相比传统单一研磨或腐蚀减薄,这个方法的 3 大优势直击痛点:低缺陷:分阶段研磨 + 湿法

    2026-01-28 admin 1

  • 【高斯摩分享】 晶圆研磨抛光魔纹全解析!5-50 倍显微镜下的 10 大缺陷 + 成因,新手也能快速排查

    晶圆研磨抛光后总遇到 “魔纹” 难题?对着显微镜看半天,却分不清是划痕、条纹还是污染,更不知道该调参数还是换耗材!这份整合实测数据的魔纹分析指南,把 5-50 倍放大下的 10 大常见缺陷、成因、解决办法拆得明明白白,工艺工程师收藏起来,拿着显微镜对照着查,10 分钟就能定位问题,再也不用反复试错浪费晶圆!一、先搞懂:啥是 “研磨抛光魔纹”?为啥要重视?“魔纹” 不是单一缺陷,而是晶圆研磨 / 抛

    2026-01-28 admin 13

  • 【高斯摩分享】 晶圆研磨终极攻略!超薄晶圆粗糙度 + 扇出封装翘曲双优化,良率提升 25%

    半导体制造中最头疼的两大难题 —— 超薄晶圆表面划痕多、扇出型封装(FOWLP)翘曲严重,是不是让你反复试错还浪费成本?这份国立中山大学的硕士论文干货,通过实验 + 模拟 + 理论三重验证,把研磨参数、表面粗糙度、封装翘曲的核心关系拆得明明白白,不仅有可直接套用的参数表,还能让翘曲幅度降低 25%,工艺工程师收藏起来,直接落地提效!一、先搞懂:研究到底解决了啥问题?论文核心聚焦两个关键痛点,直击产

    2026-01-28 admin 5

  • 【高斯摩分享】 适配 6-12 寸!EHWA 晶圆背磨轮全攻略:3 大结合剂 + 定制化配方,寿命翻倍无划痕

    晶圆背磨选对砂轮 = 省成本 + 稳良率!EHWA 作为三星、海力士都在用的背磨轮巨头,不仅适配 DISCO、OKAMOTO、TSK 等主流设备,还能按工艺定制配方,粗磨 / 精磨 / 抛光全覆盖,寿命比普通砂轮高 50%+,还能做到 “零划痕”!这份超干总结把型号解码、结合剂选型、核心优势拆得明明白白,不管是 6 寸还是 12 寸晶圆加工,收藏起来直接抄作业~一、核心基础:5 分钟吃透关键信息(

    2026-01-28 admin 9

  • 【高斯摩分享】 台积电划片机流量调整速看!上限放宽至 2.0L/Min,6 款机型实测不影响质量

    台积电 2025 年 最新工艺调整来啦!Wafer Saw 划片机切割水流量范围放宽,Blade water 和 Shower water 上限直接拉到 2.0L/Min,但标准值不变~ 很多小伙伴担心流量增大影响切割质量?别慌,6 款主流机型实测数据已出,刀痕、崩边、硅粉残留全达标,这份超干总结把调整细节、验证结果、避坑要点拆得明明白白,产线工艺师直接抄作业!一、核心调整:1 张表看懂前后变化(

    2026-01-28 admin 4

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