MITUTOYO三丰 双测头高精度数显卡尺 CDN-75C
数字显示低至 0.01 毫米,任何人都可以准确读取。核心配置双测头系统小型外测量爪:锋利尖端设计,轻松测量狭窄部位内外径复合测爪:一机实现内外尺寸测量可根据测量需求自由切换使用绝对式测量系统内置ABS绝对编码器开机即用,无需归零操作彻底避免超速测量误差智能显示与补偿高清晰度数字显示内径测量自动补偿功能:实际值 = 显示值 + 本体标注补偿值有效消除人为读数误差技术优势• 测量精度达±0.02mm•
数字显示低至 0.01 毫米,任何人都可以准确读取。核心配置双测头系统小型外测量爪:锋利尖端设计,轻松测量狭窄部位内外径复合测爪:一机实现内外尺寸测量可根据测量需求自由切换使用绝对式测量系统内置ABS绝对编码器开机即用,无需归零操作彻底避免超速测量误差智能显示与补偿高清晰度数字显示内径测量自动补偿功能:实际值 = 显示值 + 本体标注补偿值有效消除人为读数误差技术优势• 测量精度达±0.02mm•
数字显示低至 0.01 毫米,任何人都可以准确读取。
核心配置
双测头系统
小型外测量爪:锋利尖端设计,轻松测量狭窄部位
内外径复合测爪:一机实现内外尺寸测量
可根据测量需求自由切换使用
绝对式测量系统
内置ABS绝对编码器
开机即用,无需归零操作
彻底避免超速测量误差
智能显示与补偿
高清晰度数字显示
内径测量自动补偿功能:
实际值 = 显示值 + 本体标注补偿值
有效消除人为读数误差
技术优势
• 测量精度达±0.02mm
• 硬质合金测头,耐磨性强
• 符合人体工学设计,操作舒适
适用领域
精密机械加工检测
电子元器件尺寸测量
模具制造质量控制