【高斯摩】YAMABUN 山文电气 桌面离线接触厚度测量设备TOF-6R001

产品简介

核心规格

• 型号：TOF‑6R001

• 测量原理：线性光栅，恒压接触式测量

• 被测对象：PI 聚酰亚胺薄膜、高端光学薄膜、超薄锂电隔膜、纳米涂层基材等极薄高分子薄膜

• 测量量程：5‑100μm（0.005‑0.1mm）

• 最小显示分辨率：0.01μm

• 重复精度：±0.03μm

• 测量压力：0.12N / 0.19N 两档一键切换，测力公差 ±0.01N

• 可扫描试样长度：10‑10000mm 长条试样

• 采样间距：最小 0.1mm 可调，密集采样

• 电源：AC100‑240V 50/60Hz，功耗 50VA（不含电脑）

• 数据输出：USB、RS232，CSV 数据导出，厚度分布雷达图

• 工作环境：10‑40℃，湿度 35‑80% RH，无结露

• 机身：桌面台式安装

• 产地：日本原装

主要特点

1. 0.01μm 超高显示分辨率，捕捉极薄膜微小厚薄波动，满足高端新材料严苛质控要求。

2. 双档超轻恒定测力，一键切换，有效防止超薄软质薄膜受压塌陷，还原材料真实厚度数值。

3. 自动试样移送机构，具备单点速测、连续扫描、膜边专项扫描三种模式，消除人工操作带来的测试偏差，实验重复性优异。

4. 内置统计运算，自动输出最大值、最小值、平均值、标准差，生成厚度分布雷达图，便于成膜工艺分析优化。

5. 无射线无激光，台式摆放，实验台直接使用，操作简便。

6. 可选配件：卷纸打印模块、特殊专用测头等，适配多样化测试试样需求。

7. 可与产线在线测厚设备开展数据对标，用于校验在线设备测量准确度。

8. 可选计量溯源证书，满足 ISO 质量体系审核校验。

应用领域

1. PI 聚酰亚胺高端薄膜实验室研发、来料抽检。

2. 高端光学功能薄膜、超薄锂电隔膜品质检测。

3. 纳米涂层基材、超薄高分子新材料配方与工艺对比测试。

4. 卷材裁片边缘厚薄落差专项检测。