【高斯摩】YAMABUN 山文电气 桌面离线接触厚度测量设备TOF-5R01
【高斯摩】YAMABUN 山文电气 桌面离线接触厚度测量设备TOF-5R01【高斯摩】YAMABUN 山文电气 桌面离线接触厚度测量设备TOF-5R01产品简介TOF‑5R01 为台式单点接触式离线测厚仪器，专为超薄功能性薄膜开发，区别于 TOF‑4R05 厚片夹持机型。搭载线性光栅位移传感器与自动试样移送机构，恒定 0.3N 轻载荷测头，避免超薄软膜受压塌陷变形。支持单点快速检测、长距离连续扫描
【高斯摩】YAMABUN 山文电气 桌面离线接触厚度测量设备TOF-5R01
【高斯摩】YAMABUN 山文电气 桌面离线接触厚度测量设备TOF-5R01
产品简介
TOF‑5R01 为台式单点接触式离线测厚仪器，专为超薄功能性薄膜开发，区别于 TOF‑4R05 厚片夹持机型。搭载线性光栅位移传感器与自动试样移送机构，恒定 0.3N 轻载荷测头，避免超薄软膜受压塌陷变形。支持单点快速检测、长距离连续扫描，可输出厚度分布雷达图，多用于新材料研发、来料入厂检验，也可以作为在线测厚系统的实验室对标校验设备。
核心规格
型号：TOF‑5R01
测量原理：线性光栅，恒压单点接触式测量
被测对象：超薄 PET、PI、锂电隔膜、离型膜、光学薄膜、各类超薄高分子软膜
测量量程：0.02‑0.2mm（20‑200μm）
最小显示分辨率：0.1μm
重复精度：±0.2μm
标准测量压力：0.3±0.01N（超薄薄膜专用轻测力）
可扫描试样长度：10‑10000mm
采样间距：最小 0.1mm 可调
电源：AC100‑240V 50/60Hz，功耗 50VA（不含电脑）
数据输出：USB、RS232，CSV 数据导出，厚度分布雷达图
工作环境：5‑40℃，湿度 35‑80% RH，无结露
机身重量：约 6.5kg，桌面台式放置
产地：日本原装
主要特点
0.3N 超轻恒定测力，针对超薄软质薄膜，有效防止挤压变形，测量数值贴近材料真实厚度。
自动移送机构，单点速测、连续扫描两种模式，消除人工操作带来的个体误差，实验重复性好。
0.1μm 高分辨率，捕捉超薄薄膜微小厚薄波动，满足高端薄膜研发质控要求。
内置统计运算，自动输出最大值、最小值、平均值、标准差，生成厚度分布雷达图，便于成膜工艺分析优化。
无射线无激光，操作简单，台式摆放，直接放置于实验台使用。
丰富选配：卷纸打印模块、0.1mm 极小步距模块、专用测头组件等，适配多种测试需求。
可和产线在线测厚设备做数据对标校验。
可选计量溯源证书，满足 ISO 质量体系审核校验。
应用领域
锂电隔膜、超薄铝塑膜实验室研发、来料抽检。
光学薄膜、超薄 PET、PI 功能薄膜厚度检测。
双向拉伸薄膜、离型膜、超薄高分子基材品质检验。
新材料配方、工艺调整对比测试。