【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X
【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X产品简介NSW‑X 采用低能 X 射线穿透式测量原理,根据材料对 X 射线吸收衰减程度换算厚度与面密度,区别于激光测厚,不受透明、半透明、黑色薄膜材质干扰。分体 C 型伺服扫描龙门,探头横向往复移动,完成卷材全幅扫描,输出横向厚度分布曲线。设备断电 X 射线即刻关闭,
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【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X
【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X

型号:NSW‑X
测量原理:低能 X 射线穿透衰减式非接触测量
被测对象:PET、PP、PE、PI、锂电隔膜、铝塑膜、各类高分子薄膜片材
测量量程:1‑1000μm(同时支持厚度、面密度两种单位显示)
可测最大幅宽:6000mm,机架按产线定制
扫描速度:最大 200mm/s
采样步距:最小 1mm 可调
测量光斑:φ15mm
最小显示分辨率:0.01μm / 0.01g/㎡
产线走料速度:最高 300m/min
数据输出:RS485、Modbus、模拟量,CSV 数据存储导出
操作单元:专用操作台,显示实时厚度、最大 / 最小 / 平均值、标准差、厚度分布曲线
电源:三相 AC200V 50‑60Hz,1.5kVA
吹扫气源:0.4MPa 洁净压缩空气
工作环境:5‑40℃,湿度 35‑80% RH,无结露
结构形式:分体 C 型龙门框架
产地:日本原装
低能 X 射线发生装置,无放射性同位素源,断电射线随即停止,带机械安全快门,无需辐射许可,运维安全简单。
不受材料透明度、颜色、花纹影响,透明、黑色、半透明薄膜都可以稳定测量。
同时输出厚度、面密度数值,适配薄膜、隔膜、复合膜工艺管控。
分体 C 型轻量化机架,适合新产线配套以及旧产线改造,安装维护便捷。
伺服横向往复全幅扫描,获取完整横向厚度分布,快速定位厚薄异常位置。
一键生成材质校准曲线,多组材料曲线预存,切换产品调用即可,校准操作简便。
厚度超差报警,完整保存生产数据,满足品质追溯。
可直接联动挤出 T 型模头控制器,实现闭环自动调厚,也可对接 PLC、MES 系统。
抗轻微振动,适配高速挤出产线工况。
10. 可选计量溯源证书,满足 ISO、IATF16949 质量体系审核校验。
流延、拉伸塑料薄膜产线在线全幅厚度监控。
锂电隔膜、铝塑复合膜、功能性涂层薄膜厚度检测。
PI、PEEK 等工程塑料薄膜、离型膜、光学膜品质管控。
包装膜、医药薄膜各类高分子卷材连续生产检测。