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【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X

【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X产品简介NSW‑X 采用低能 X 射线穿透式测量原理,根据材料对 X 射线吸收衰减程度换算厚度与面密度,区别于激光测厚,不受透明、半透明、黑色薄膜材质干扰。分体 C 型伺服扫描龙门,探头横向往复移动,完成卷材全幅扫描,输出横向厚度分布曲线。设备断电 X 射线即刻关闭,

【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X

【高斯摩】YAMABUN山文电气 在线X射线厚度测量设备NSW-X


产品简介

NSW‑X 采用低能 X 射线穿透式测量原理,根据材料对 X 射线吸收衰减程度换算厚度与面密度,区别于激光测厚,不受透明、半透明、黑色薄膜材质干扰。分体 C 型伺服扫描龙门,探头横向往复移动,完成卷材全幅扫描,输出横向厚度分布曲线。设备断电 X 射线即刻关闭,配置安全遮断快门,无需办理放射源相关许可,可对接挤出模头控制器、PLC、MES 实现闭环自动调厚,广泛用于各类高分子薄膜连续生产线,可选计量溯源证书。

核心规格

  • 型号:NSW‑X

  • 测量原理:低能 X 射线穿透衰减式非接触测量

  • 被测对象:PET、PP、PE、PI、锂电隔膜、铝塑膜、各类高分子薄膜片材

  • 测量量程:1‑1000μm(同时支持厚度、面密度两种单位显示)

  • 可测最大幅宽:6000mm,机架按产线定制

  • 扫描速度:最大 200mm/s

  • 采样步距:最小 1mm 可调

  • 测量光斑:φ15mm

  • 最小显示分辨率:0.01μm / 0.01g/㎡

  • 产线走料速度:最高 300m/min

  • 数据输出:RS485、Modbus、模拟量,CSV 数据存储导出

  • 操作单元:专用操作台,显示实时厚度、最大 / 最小 / 平均值、标准差、厚度分布曲线

  • 电源:三相 AC200V 50‑60Hz,1.5kVA

  • 吹扫气源:0.4MPa 洁净压缩空气

  • 工作环境:5‑40℃,湿度 35‑80% RH,无结露

  • 结构形式:分体 C 型龙门框架

  • 产地:日本原装

主要特点

  1. 低能 X 射线发生装置,无放射性同位素源,断电射线随即停止,带机械安全快门,无需辐射许可,运维安全简单。

  2. 不受材料透明度、颜色、花纹影响,透明、黑色、半透明薄膜都可以稳定测量。

  3. 同时输出厚度、面密度数值,适配薄膜、隔膜、复合膜工艺管控。

  4. 分体 C 型轻量化机架,适合新产线配套以及旧产线改造,安装维护便捷。

  5. 伺服横向往复全幅扫描,获取完整横向厚度分布,快速定位厚薄异常位置。

  6. 一键生成材质校准曲线,多组材料曲线预存,切换产品调用即可,校准操作简便。

  7. 厚度超差报警,完整保存生产数据,满足品质追溯。

  8. 可直接联动挤出 T 型模头控制器,实现闭环自动调厚,也可对接 PLC、MES 系统。

  9. 抗轻微振动,适配高速挤出产线工况。

    10. 可选计量溯源证书,满足 ISO、IATF16949 质量体系审核校验。

应用领域

  1. 流延、拉伸塑料薄膜产线在线全幅厚度监控。

  2. 锂电隔膜、铝塑复合膜、功能性涂层薄膜厚度检测。

  3. PI、PEEK 等工程塑料薄膜、离型膜、光学膜品质管控。

  4. 包装膜、医药薄膜各类高分子卷材连续生产检测。


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