OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-500
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-500OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-500紧凑型紫外专用分光配光设备，采用 Type-C 样品旋转光路，针对小型紫外发光器件设计，可同步完成配光、光谱、辐射参数检测，适用于紫外光源研发、质检与性能认证。一、基础信息光学制式：Type-C标准测试光程：500mm 以内波长范围：200–850nm，覆盖深紫外至可见光计量溯源：支
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-500
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-500
紧凑型紫外专用分光配光设备，采用 Type-C 样品旋转光路，针对小型紫外发光器件设计，可同步完成配光、光谱、辐射参数检测，适用于紫外光源研发、质检与性能认证。
一、基础信息
光学制式：Type-C标准测试光程：500mm 以内波长范围：200–850nm，覆盖深紫外至可见光计量溯源：支持 JCSS 标准溯源适配样品：UVC-LED、紫外灯珠、小型 UV 模组、微型杀菌与固化光源
二、核心技术参数
测角结构：双轴 θ/φ 精密测角仪角度范围：θ 轴 ±90°，φ 轴 0°~360°，可软件自定义区间角度重复精度：≤0.05°光谱分辨率：约 1.0nm动态范围：可稳定检测弱紫外光至常规紫外光源单次完整测量时长：1~3 分钟整机做紫外光学优化，有效抑制杂散光干扰
三、可检测项目
配光类：空间辐射强度分布、配光曲线、光束角、辐射均匀性
光谱类：全光谱功率分布、各紫外波段能量占比
辐射类：总辐射通量、指定紫外波段有效辐照强度
其他：不同角度下紫外能量变化、发光角度偏差
四、产品特点
强化深紫外检测性能，200nm 波段检测灵敏度与精度表现优异。
双轴测角精度高，可精准识别光源不同角度的紫外能量差异。
配光、光谱、辐射参数同步采集，一次测试输出完整数据。
机身小巧，占地空间小，适配实验室及小型检测工位。
抗杂光设计，暗室环境下运行稳定，数据重复性佳。
测量数据可溯源，满足产品检测、第三方认证要求。
五、应用场景
消杀行业：UVC 灯珠、微型杀菌模组配光与使用效能检测。
光电行业：UV-LED 元器件来料抽检、出厂品质管控。
工业领域：小型 UV 固化、紫外曝光光源角度性能测试。
研发实验：新型紫外器件、紫外光学材料的性能验证与工艺优化。
合规检测：按照行业标准完成参数测试，出具检测数据。
六、使用规范
设备安置在专用暗室，环境保持平整无尘，远离震动与强电磁干扰。
操作紫外光源必须做好防护，避免紫外线直射皮肤与眼睛。
取放样品轻拿轻放，防止磕碰测角机构与光学镜片。
波段、角度、测试程序等参数调整，由专业人员操作。
定期使用标准紫外光源校准设备，保障测量准确。
长期停机做好防尘，断开设备总电源。