OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-500
OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-500OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-500一、基础信息设备型号：GP-500光学制式：Type-C适用样品：LED 芯片、Mini/Micro LED、OLED 像素及各类微型发光器件标准测试光程：500mm 以内结构形式：样品旋转式双轴测角结构二、核心技术参数测角轴：双轴 θ/φ 精密测角仪角度范围：θ 轴 ±90°，φ 轴 0°
OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-500
OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-500
一、基础信息
设备型号：GP-500光学制式：Type-C适用样品：LED 芯片、Mini/Micro LED、OLED 像素及各类微型发光器件标准测试光程：500mm 以内结构形式：样品旋转式双轴测角结构
二、核心技术参数
测角轴：双轴 θ/φ 精密测角仪角度范围：θ 轴 ±90°，φ 轴 0°~360°，可通过软件限定区间角度重复精度：≤0.05°标配波长范围：360~830nm，可选拓展至 220~850nm光谱通道：可选 512 通道、1024 通道光谱分辨率：512 通道约 1.4nm，1024 通道约 0.7nm亮度测量范围：10⁻⁴~10⁶ cd/m²单样品常规测量时长：1~3 分钟
三、可检测项目
配光参数：空间发光强度分布、配光曲线、光束角
光谱参数：相对光谱功率分布
色度参数：色度坐标、色温、主波长、色纯度、显色指数
其他：光通量、辐射通量、光学均匀性
四、产品特点
设备体积紧凑，占用空间小，适配实验室及小型检测工位。
配光与光谱色度同步采集，一次测量获取全部数据，提升检测效率。
角度控制精度高，可精准捕捉微型器件细微的发光角度差异。
宽动态亮度范围，弱光、常规亮度样品都可稳定测量。
自动化程度高，运行过程无需人工干预，降低人为误差。
符合行业相关检测标准，数据可用于工艺验证与产品认证。
五、应用场景
半导体光电领域：LED 芯片、灯珠光学性能标定与批量质检。
显示行业：Mini/Micro LED、OLED 像素单元光学特性测试。
产品研发：新型微型发光器件配方、结构、工艺优化实验。
品质管控：元器件出厂检测、来料抽检、不良品分析。
六、使用规范
设备安置在暗室环境，保持场地平稳、无尘，远离震动与强电磁干扰。
取放微型样品动作轻柔，避免磕碰测角机构与光学镜头。
角度、波段、测量程序等参数调整，由专业人员操作。
定期使用标准光源完成设备校准，保证测量准确度。
长期停机做好防尘防护，切断整机电源。