OTSUKA 大塚电子 液晶层间隙量测设备 RETS系列
OTSUKA 大塚电子 液晶层间隙量测设备 RETS系列OTSUKA 大塚电子 液晶层间隙量测设备 RETS系列一、基础信息测量原理：偏振光谱干涉法（透射 / 反射兼容，无损非接触）核心功能：液晶盒间隙（Cell Gap）主测，可选配 twist 角、预倾角、相位差等光谱范围：400–800 nm（可见光）样品尺寸：20 mm×20 mm 至第 10 代大型基板（2000 mm×2000 mm+）
OTSUKA 大塚电子 液晶层间隙量测设备 RETS系列
OTSUKA 大塚电子 液晶层间隙量测设备 RETS系列
一、基础信息
测量原理：偏振光谱干涉法（透射 / 反射兼容，无损非接触）
核心功能：液晶盒间隙（Cell Gap）主测，可选配 twist 角、预倾角、相位差等
光谱范围：400–800 nm（可见光）
样品尺寸：20 mm×20 mm 至第 10 代大型基板（2000 mm×2000 mm+）
测量光斑：φ2 mm、φ5 mm、φ10 mm
光学系统：偏振光学系，内置高消光比（10⁻⁵）格兰汤姆森棱镜
检测器：多通道分光光度计
光轴倾斜：-20°～45°（可选 - 45°～45°）
二、技术参数
间隙测量范围：0.1 μm ～ 数十 μm
间隙重复精度：±0.005 μm（5 nm）
单点测量速度：高速（适配量产线）
角度精度：自动旋转偏振单元，±0.1°
测量模式：透射型、反射型、半透射型兼容
适用液晶模式：TN、STN、IPS、VA、FFS、MVA、OCB、铁电液晶等
三、产品特点
超高精度量测：间隙重复精度达 **±5 nm**，满足高端显示面板严苛公差要求。
全尺寸基板兼容：从小尺寸光学元件到第 10 代 2m 级大基板，覆盖全世代产线。
多模式适配：透射 / 反射 / 半透射液晶盒、空盒、带彩膜基板均可测量。
多功能扩展：可选预倾角、扭曲角、摩擦角、相位差、三维折射率等参数。
量产级稳定：洁净室适配设计，防尘防颗粒，可直接嵌入液晶量产线。
高速全域扫描：支持面内间隙分布 Mapping，快速检出翘曲、厚度不均等缺陷。
无损非接触：不损伤液晶层、彩膜与偏光片，适合贵重样品与在线检测。
四、测量项目（标配 + 可选）
标配：液晶盒间隙（Cell Gap）、空盒间隙
可选：扭曲角、摩擦角、预倾角（TN/IPS/FFS/MVA）、相位差（波长色散）、光学轴、椭圆率 / 方位角、三维折射率（Rth/β）、光谱 / 色度
五、应用场景
LCD/OLED 面板：液晶层间隙精准质控、盒厚均匀性检测、翘曲变形分析
液晶材料：预倾角 / 扭曲角标定、相位差膜 / 偏光片光学特性测试
光学膜材： retardation 膜、偏振膜、彩膜基板的光学参数检测
研发与量产：实验室新品开发、产线首件确认、批量在线抽检 / 全检