OTSUKA 大塚电子 在线评估测试系统 MCPD-9800
OTSUKA 大塚电子 在线评估测试系统 MCPD-9800OTSUKA 大塚电子 在线评估测试系统 MCPD-9800一、基础信息型号：MCPD-9800（旗舰型）原理：多通道分光 + 电子冷却 CCD/InGaAs 探测器，光纤采集光谱探测器：电子冷却 CCD（512/1024ch）或 InGaAs（512ch，近红外）波长范围（5 种标准版本）：2285C：220–850nm（紫外 - 可见
OTSUKA 大塚电子 在线评估测试系统 MCPD-9800
OTSUKA 大塚电子 在线评估测试系统 MCPD-9800
一、基础信息
型号：MCPD-9800（旗舰型）
原理：多通道分光 + 电子冷却 CCD/InGaAs 探测器，光纤采集光谱
探测器：电子冷却 CCD（512/1024ch）或 InGaAs（512ch，近红外）
波长范围（5 种标准版本）：
2285C：220–850nm（紫外 - 可见）
3095C：300–950nm（紫外 - 可见 - 近红外）
3683C：360–830nm（可见）
311C：360–1100nm（可见 - 近红外）
916C：900–1600nm（近红外）
外形尺寸：紧凑型（较上代缩小约 60%）
光纤：石英光纤（φ12mm 接头，长约 2m）；近红外版为掺 Ge 石英光纤
通信接口：USB、LAN
电源 / 功耗：标准工业电压，低功耗
二、核心技术参数
膜厚测量范围：65nm–92μm（依波长版本而定）
光谱分辨率：0.5–1.9nm / 像素（依探测器与波长版本）
扫描时间：5ms–20s（紫外 - 可见）；1ms–10s（近红外）
测量光斑：φ1.2mm（标准）
动态范围：≥10⁶（宽动态，适配强弱光）
杂散光：＜1%（低杂散光，精准紫外测量）
信噪比：＜0.1%
检测项目：膜厚、反射率、透过率、相位差、色度（近红外版无）
三、关键特点
高速在线：最短 5ms 采样，毫秒级全光谱采集，适配卷对卷产线高速抽检。
高精度低杂散光：电子冷却探测器 + 低杂散光设计，紫外定量与量子效率测量精度高。
宽光谱覆盖：5 种波长版本，覆盖紫外 220nm 至近红外 1600nm，适配多材料。
多功能集成：一机同步测膜厚、光学特性与色度，无需多设备。
光纤柔性探测：光纤探头灵活布置，适配复杂样品、显微测量与多点监控。
稳定易集成：JCSS 可溯源校准，适配工业环境，易对接产线自动化系统。
四、典型应用
显示行业：LCD/OLED 相位差膜、偏光膜、ITO 膜、光学补偿膜的膜厚与光学特性在线监测。
光学薄膜：增透膜、红外截止膜、保护膜、偏振膜的厚度均匀性与光学参数质控。
半导体 / 晶圆：晶圆镀膜、光刻胶、氧化层的膜厚与反射率高速检测。
光源照明：LED/OLED、汽车灯具的光通量、色度、光谱特性评估。
透明材料：玻璃、树脂、亚克力的涂层厚度、透过率与内应力相关光学特性检测。
精密光学元件：波片、棱镜、透镜的相位差、反射 / 透射特性测量。