OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【在线型】
OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【在线型】OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【在线型】一、基础信息测量原理：分光干涉法，搭配 FFT 膜厚解析算法光源：高稳定性白光 LED检测形式：线扫描全域检测探头尺寸：81×140×343mm探头重量：约 4kg供电规格：AC100V±10%，额定功率 125VA数据输出：二维厚度分布图、横向纵向厚度趋势数据、异常预警信号二、技术参数膜厚测量范围：0.7
OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【在线型】
OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【在线型】
一、基础信息
测量原理：分光干涉法，搭配 FFT 膜厚解析算法光源：高稳定性白光 LED检测形式：线扫描全域检测探头尺寸：81×140×343mm探头重量：约 4kg供电规格：AC100V±10%，额定功率 125VA数据输出：二维厚度分布图、横向纵向厚度趋势数据、异常预警信号
二、技术参数
膜厚测量范围：0.7μm~300μm空间分辨率：横向、纵向均为 1mm单次扫描幅宽：标准 500mm，多设备拼接最大可达 10m扫描间隔：最短 10ms波长分辨率：约 0.6nm / 像素
三、产品特点
线扫描模式可覆盖材料完整幅宽，全面检测厚度偏差，无检测盲区。
扫描速度快，最短 10ms 即可完成一次扫描，适配各类高速运转产线。
支持多设备拼接，可满足超宽幅卷材、板材的检测需求。
光学结构具备抗干扰能力，可抵御材料飘动、抖动带来的影响。
非接触式检测，不会划伤、污染膜层与基材，适用各类精密薄膜。
可长期 24 小时连续运行，适配工业量产工况。
实时输出厚度数据与分布图谱，异常状态自动预警，便于及时管控工艺。
四、使用规范
设备安装位置避开高温、强腐蚀、强电磁干扰区域，固定牢固。
严禁撞击、磕碰扫描探头，保持光学窗口洁净无粉尘。
产线运行时不要触碰探头及连接线路，防止设备移位。
定期清理光学表面，检查线路连接状态，保障信号稳定。
非专业人员不得随意修改扫描参数、报警阈值等系统设置。
五、使用方法
完成设备安装与线路连接，接通电源启动整机与配套系统。
根据产品规格、工艺要求，设置扫描参数、厚度上下限预警值。
启动产线与检测设备，系统自动对线扫描并实时采集数据。
实时查看厚度分布图谱与趋势数据，出现异常及时调整生产工艺。
生产结束后，依次关闭设备电源，对探头进行清洁并做好防尘防护。
六、应用场景
适用于光学薄膜、涂布卷材、塑料薄膜、复合板材、柔性材料等宽幅产品生产线，广泛应用于涂布、覆膜、压延等工序，用于全程膜厚监控与工艺稳定性把控。