OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量测试系统 ELSZneo
OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量测试系统 ELSZneoOTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量测试系统 ELSZneo新一代全功能一体化检测设备，标配 ZETA 电位、颗粒粒径、分子量三项检测功能，采用模块化架构，检测精度高、样品适配性强，支持多项拓展功能，是科研与工业检测通用的综合分析仪器。一、基本信息品牌：OTSUKA 大塚电子型号：ELSZneo标配功能：Z
OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量测试系统 ELSZneo
OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量测试系统 ELSZneo
新一代全功能一体化检测设备，标配 ZETA 电位、颗粒粒径、分子量三项检测功能，采用模块化架构，检测精度高、样品适配性强，支持多项拓展功能，是科研与工业检测通用的综合分析仪器。
一、基本信息
品牌：OTSUKA 大塚电子
型号：ELSZneo
标配功能：ZETA 电位、颗粒粒径、分子量检测
整机尺寸：330×565×245mm
供电规格：AC220V±10%，额定功率 250VA
二、检测原理
颗粒粒径：动态光散射法
ZETA 电位：激光多普勒电泳光散射法
分子量：静态光散射法
三、技术参数
- 测量范围粒径：0.6nm~10μmZETA 电位：-200mV~+200mV分子量：360~20000000 Da样品浓度：粒径与分子量检测 0.00001%~40%，电位检测 0.001%~40%常规进样量：130μL，可选配 3μL 超微量样品池
- 温控参数温控区间：0℃~90℃，支持温度梯度扫描测试控温精度：±0.1℃
- 光学配置光源：大功率半导体激光器检测器：高灵敏度 APD 检测器，支持多角度检测
四、产品概述
该机型为系列全功能旗舰款，出厂集成三项核心检测能力，无需额外加装模块即可完成全套测试。设备延续优化光学设计与电渗流校正技术，有效抵消环境与容器带来的检测误差，高盐、高浓度样品可直接上机测试。搭配多类型样品池，兼顾常规检测与微量样品分析，精准控温系统可开展样品热变性、相变等温度相关试验，整体运行稳定，可满足长期连续测试需求。
五、使用规范
设备安置在平稳避光区域，远离震动源与强电磁干扰设备。
待测样品保持洁净无杂质，根据用量与特性选用对应样品池。
仪器运行期间，不得触碰光路、检测腔体等核心部件。
温度参数设置不得超出额定区间，禁止超温运行。
单次测试完成后及时清洁样品池，长期闲置做好防尘防护。
六、使用方法
接通电源，启动仪器，等待设备完成预热自检。
选定检测项目，设置温度、测试时长等运行参数。
将样品装入样品池，放置至指定检测位置。
启动检测程序，测试结束后读取并保存数据。
取出并清理样品池，确认设备状态正常后关闭电源。
七、产品特点
全功能集成，一机实现三项指标检测，适配多元化测试需求。
浓度兼容范围广，高浓度、高盐体系样品可直接检测。
多款样品池可选，可满足常规、微量、超微量进样场景。
搭载自动校正技术，结合多角度检测，数据精准可靠。
宽温域精准控温，可开展温度关联的样品特性研究。
模块化拓展空间充足，可按需增配其他分析功能。
八、应用场景
广泛应用于纳米材料、胶体化工、高分子材料、生物蛋白、医药制剂、涂料油墨、半导体材料、水处理等领域，用于颗粒粒径、表面电性、分子分子量及体系稳定性分析。