ONOSOKKI小野测器 3D显微镜单元 LV-0383

一、产品概述

二、详细参数

1. 光学物镜可选 5 倍、10 倍、20 倍、50 倍多规格物镜；激光最小焦点直径可达 φ2.5μm；各物镜匹配专属工作距离，兼顾观测空间与聚焦精度。
2. 成像系统搭载双目成像光路，支持二维平面成像与三维立体成像切换；图像分辨率 1280×960，采用 USB2.0 接口传输数据；可实时观测、点位标记、静态图像存储、三维形貌数据记录。
3. 照明系统采用同轴落射照明，光路与激光、摄像光路一体化重合；亮度连续可调，光源无频闪、光线分布均匀，可消除凹凸结构产生的阴影，适配不同表面材质工件。
4. 机械调焦结构配备手动粗调 + 精细微调双模式调焦；垂直有效行程 30mm，粗调单圈行程 36mm，微调单圈行程 0.2mm；机身带防坠落保护结构，底座稳固，可搭配多轴精密位移台使用。
5. 测量性能基础测量频率范围 0.3Hz～3MHz，支持拓展至 20MHz；激光测点、平面成像、三维视场中心完全对齐，无定位偏移误差。
6. 环境参数工作温度 0℃～40℃；工作湿度 30%～80% RH，使用环境禁止结露。

三、产品特点

1. 具备三维立体观测能力，可清晰分辨工件表面凹凸、细微纹路、结构落差，适配复杂形貌试件。

2. 多倍率物镜自由选配，覆盖常规显微到高倍显微场景，通用性强。

3. 双目同轴光路设计，平面、三维画面切换便捷，观测视角直观。

4. 粗精两级调焦组合，快速完成对位与精准对焦，满足微米级测点定位要求。

5. 一体化同轴照明，有效规避反光、阴影干扰，保障复杂表面成像质量。