【高斯摩】HAMAMATSU滨松 硅光电二极管阵列S12363-421
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产品概述
【高斯摩】HAMAMATSU 滨松 S12363-421 16 通道背照式硅光电二极管阵列,加宽基板封装,基板尺寸 40.4×20.0 mm,出厂预搭载厚型 CsI (Tl) 闪烁体,单像元尺寸 2.2×2.7 mm,像元间距 2.5 mm,是 S12363 系列里低能 X 射线探测型号,常用在双能成像上层。
核心参数
通道数:16 通道
内置闪烁体:CsI (Tl)(厚款)
光谱响应范围:340 nm~1100 nm
峰值响应波长:920 nm
典型灵敏度:0.61 A/W
最大暗电流:50 pA(VR=10 mV)
典型上升时间:8 μs
典型端子电容:70 pF
单像元尺寸:2.2 mm × 2.7 mm
像元间距:2.5 mm
基板尺寸:40.4 mm × 20.0 mm
工作温度:-10℃~+60℃(无凝露)
存储温度:-20℃~+70℃
产品特点
背照式结构,感光面无键合引线,光收集效率高,通道均匀性好
厚 CsI (Tl) 闪烁层,对低能 X 射线吸收效率高,适合双能上层探测
加宽基板,双层堆叠装配固定方便,适配双能探头量产
可多片横向拼接,延长线阵总长,实现长线扫描
系列对比:S12363-021 无闪烁体;S12363-121 带 GOS;S12363-321 薄 CsI (Tl);S12363-421 厚 CsI (Tl)
和 S12362-421 对比:光电、像元参数一致;S12362 基板 40.4×10.2 mm;S12363 基板加宽,适合双层堆叠
经典双能搭配:上层 S12363-421,下层 S12363-121 / S12363-321
应用场景
双能 X 射线安检探测、工业 X 射线线扫描无损检测、食品在线异物检测、射线成像线阵探头、厚工件探伤检测。
使用注意事项
CsI (Tl) 闪烁晶体极易潮解,严禁破坏表面密封保护层
闪烁表层禁止硬物刮擦、有机溶剂接触
反向偏压不可超过 10V,防止器件损坏
暗电流随温度上升变大,高精度成像建议稳定温控
不适合深紫外检测场景
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