OPTRIS 精密可靠的红外热像仪 PI400i LT 29°x22°
PI 400i 红外热像仪满足研究人员和工程师的需求，温度范围广泛，从 -20°C 到 900°C（可扩展到 1500°C）。利用非制冷探测器技术，它提供高可靠性、低功耗和快速的 80Hz 帧率，实现无运动模糊成像。其 17 µm 像素间距支持精确测量，并配有可互换镜头光学系统。在德国制造，并附有可选的校准证书，确保在苛刻工业环境中的可靠性。其坚固的设计使其能够轻松应对恶劣条件，非常适合需要高可靠
PI 400i 红外热像仪满足研究人员和工程师的需求，温度范围广泛，从 -20°C 到 900°C（可扩展到 1500°C）。利用非制冷探测器技术，它提供高可靠性、低功耗和快速的 80Hz 帧率，实现无运动模糊成像。其 17 µm 像素间距支持精确测量，并配有可互换镜头光学系统。在德国制造，并附有可选的校准证书，确保在苛刻工业环境中的可靠性。其坚固的设计使其能够轻松应对恶劣条件，非常适合需要高可靠性的关键应用。从电气系统到工业流程，PI 400i 提供精确结果，确保在各个行业中实现准确的温度测量。
温度测量范围：-20°C 至 900°C - 可选扩展至 1500°C
光谱范围：8 至 14 µm
快速帧率：80 Hz
| 型号 | PI400i LT 18°x14° | PI400i LT 29°x22° | PI400i LT 53°x38° | PI400i LT 80°x54° |
| 探测器 | ||||
| 光学分辨率 | 382×288 像素 | |||
| 像素间距 | 17 µm | |||
| 探测器 | 非制冷红外探测器 | |||
| 光谱范围 | 低温测量: 8 – 14 µm | |||
| 光学滤镜 | 可选：CO2 10.6 µm | |||
| 帧率 | 80Hz（可切换至27Hz） | |||
| 光学 | ||||
| 视场角 | 18°x14° | 29°x22° | 53°x38° | 80°x54° |
| 焦距 [毫米] | 20 | 12.7 | 7.7 | 5.7 |
| F值 | 1.1 | 0.9 | 0.9 | 0.9 |
| 光学分辨率 | 386:1 | 239:1 | 126:1 | 79:1 |
| 到目标的最小距离 | 450 mm | 350 mm | 250 mm | 200 mm |
| 可更换光学器件 | 可以 | |||
| 测量 | ||||
| 物体测量范围 | –20 … 100 °C; 0 … 250 °C; (20) 150 … 900 °C *1); 200 °C … 1500 °C (可选) | |||
| 精度 | ±2 °C 或 ±2 %，取较大者 | |||
| 热灵敏度 (NETD) | 75 mK（29° 视场角） 75 mK（53° 视场角） 75 mK（80° 视场角） 0.1 K（18° 视场角） | |||
| 最小可检测点大小 IFOV: 1像素 | 0.4mm | 0.5mm | 0.6mm | 0.9mm |
| 最小可测量点大小 MFOV | 1.2mm | 1.5mm | 1.8mm | 2.7mm |
| MFOV测量视场 | 3×3 像素 | |||
| 预热时间 | 10 分钟 | |||
| 发射率/透过率/反射率 | 可调：0.100…1.100 | |||
PI 400i 是一款红外热像仪，专为满足研究人员和工艺工程师的需求而设计。凭借其卓越的性能和多功能设计，这款热成像仪在研究和工艺控制应用领域树立了高性能的标杆。PI 400i 拥有广泛的温度测量范围，覆盖从 -20°C 到 900°C 的标准配置，并可扩展至 1500°C，确保全面的热监测能力，使其在各种行业和应用中成为不可或缺的工具。
得益于非制冷探测器技术，Optris 红外热像仪提供了高性能和低功耗的经济型设计，具有较长的使用寿命和紧凑的体积。该热像仪配备 382 x 288 非制冷热成像探测器，能够生成优质的热成像图像，捕捉最细微的热指纹，为操作人员提供其应用的热分析见解。
Optris 成像系统是优化用于固定使用的非制冷热前视红外（FLIR）热像仪。这些 FLIR 热像仪采用非制冷二维成像探测器，在红外波长范围内生成辐射热图像，无需使用机械旋转或振荡的活动镜子。非制冷辐射热计技术增强了更可靠、经济且坚固的设计，尤其是与传统的线扫描应用相比。这些 FLIR 红外热像仪在德国设计、开发和制造。