OPTRIS 紧凑型工业自主短波红外热像仪 Xi1M 7°x5°
Optris Xi 1M 是一款短波红外热像仪，擅长对具有挑战性的物体进行非接触热成像。它能够精确测量热金属、钢铁、陶瓷和半导体的表面温度。凭借自主热测量能力和电动对焦功能，该热像仪在工业环境中提供了可靠性和便利性，无需额外的硬件。它配备了以太网、USB 接口，以及模拟和数字过程接口，实现了与控制系统和机械设备的无缝集成。工业以太网短波红外热像仪宽测量范围从 450°C 到 1800°C，无需子范
OPTRIS 紧凑型工业自主短波红外热像仪 Xi1M 7°x5°
OPTRIS 紧凑型工业自主短波红外热像仪 Xi1M 7°x5°
红外热像仪是一种将物体表面温度分布可视化成像的先进检测设备，通过接收物体发出的红外辐射，将其转换为直观的温度场图像。现代红外热像仪集成了红外光学系统、焦平面探测器、图像处理算法和显示系统，可实时显示被测物体的热分布情况。
核心工作原理基于斯特藩-玻尔兹曼定律，通过测量物体表面3-14μm波段的红外辐射能量，经非均匀性校正、温度计算等处理，最终生成伪彩色热图像。典型系统包含红外镜头、探测器阵列、信号处理器和显示单元四大模块。
核心优势解析
全域温度可视化
可同时检测数万个温度点（常见分辨率160×120至640×512）
热图像空间分辨率最高可达0.65mrad
支持-40℃至2000℃宽温度范围测量
非接触安全检测
最远检测距离可达数百米（视镜头配置）
完全避免带电检测风险
不干扰被测设备正常运行
高效诊断能力
帧率最高60Hz，捕捉瞬态热过程
温差灵敏度达0.03℃（高端型号）
支持多点/区域温度分析
智能分析功能
自动热点追踪报警
支持温度趋势分析
可集成AI缺陷识别算法