日本山高SANKO 膜厚计 SWT-NEOIII
SWT-NEOII./NEOIII. 双式涂层测厚仪兼容探头,高性能类型,如内存、统计计算、数据传输等。* 专用探头单独出售。 (探头与 SWT-9000 系列或更早版本不兼容。 )特征:可以根据测量应用选择连接的探头。LCD 屏幕上显示指导作说明。大测量存储器(NEOII.:20,000 点,NEOIII.:40,000 点)。通过校准曲线注册轻松进行呼叫测量上下限值设定,内置统计计算功能。数据
SWT-NEOII./NEOIII. 双式涂层测厚仪兼容探头,高性能类型,如内存、统计计算、数据传输等。* 专用探头单独出售。 (探头与 SWT-9000 系列或更早版本不兼容。 )特征:可以根据测量应用选择连接的探头。LCD 屏幕上显示指导作说明。大测量存储器(NEOII.:20,000 点,NEOIII.:40,000 点)。通过校准曲线注册轻松进行呼叫测量上下限值设定,内置统计计算功能。数据
SWT-NEOII./NEOIII. 双式
涂层测厚仪
兼容探头,高性能类型,如内存、统计计算、数据传输等。
* 专用探头单独出售。 (探头与 SWT-9000 系列或更早版本不兼容。 )
特征:
可以根据测量应用选择连接的探头。
LCD 屏幕上显示指导作说明。
大测量存储器(NEOII.:20,000 点,NEOIII.:40,000 点)。
通过校准曲线注册轻松进行呼叫测量
上下限值设定,内置统计计算功能。
数据可以通过 USB 连接传输到计算机。
内置特定低功耗无线电输出 (NEO-III.)。
倾斜支架
用法:
喷漆 / 衬里 / 电镀
绝缘涂层,如阳极氧化铝