OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 2585C
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 2585COTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 2585COTSUKA 大塚电子 QE-2100+2585C 是一套分离式、可温控的高精度绝对量子效率测量系统，核心由主机 QE-2100 与多通道光谱检测器MCPD-2585C组成，适用于 LED/OLED、量子点、荧光粉、染料、薄膜等材料的发光效率与光谱特性评估，支持固 /
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 2585C
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 2585C
OTSUKA 大塚电子 QE-2100+2585C 是一套分离式、可温控的高精度绝对量子效率测量系统，核心由主机 QE-2100 与多通道光谱检测器MCPD-2585C组成，适用于 LED/OLED、量子点、荧光粉、染料、薄膜等材料的发光效率与光谱特性评估，支持固 / 液 / 粉 / 膜多种样品形态。
二、核心构成
QE-2100 主机（分离型）：积分半球、温控样品腔、激发光源光路、控制单元；支持温度依赖性测量（-30℃~+300℃）。
MCPD-2585C 多通道光谱检测器：高分辨率、低杂散光、1024ch电子冷却 CCD，负责光谱采集。
150W Xe 激发光源单元：250–800nm 连续可调，正弦杆自动扫描。
专用软件：光谱采集、量子效率计算、EEM、温度联动、自动报告。
三、关键规格（2585C 配置）
1. 激发光源
光源：150W 氙灯（Xe）
波长范围：250–800nm（连续可调）
波长精度：±0.3nm
扫描方式：正弦杆自动扫描
带宽：FWHM 5nm（狭缝 0.6mm）
2. 光谱检测器 MCPD-2585C
波长范围：250–850nm
分光器：平场全息光栅，F=3，f=85.8mm
检测器：1024ch 电子冷却 CCD（-10℃）
分辨率：约 0.6nm / 像素
AD 分辨率：16bit
杂散光：紫外区超低杂散光设计
3. 样品与测量
样品形态：粉末、溶液、固体、薄膜、量子点
核心功能：绝对量子效率（QE）、发射光谱、激发光谱、EEM（激发 - 发射矩阵）、温度依赖性（-30℃~+300℃）
光学设计：专利积分半球，高亮度、高收集效率
校正：再激发荧光自动校正，消除二次激发干扰
4. 尺寸与电源
主机：约 300×710×450mm，34kg
检测器：约 210×280×120mm，6kg
电源：AC100–240V，750VA
四、核心特点
绝对 QE 直接测量：无需标准样品，直接输出绝对值，精度高。
1024ch 高分辨率：2585C 为1024 通道，比 512ch 型号分辨率更高，适合精细光谱分析。
温控测量（-30℃~+300℃）：分离式设计，可研究材料发光效率随温度的变化。
低杂散光 + 积分半球：紫外测量更准，信号收集效率高。
多形态样品兼容：固体、薄膜、粉末、溶液一机搞定。
自动化与易用性：软件设定波长 / 温度序列，自动扫描测量。
五、典型应用
LED/OLED 荧光粉、发光材料研发与质检
量子点、钙钛矿、荧光探针、生物荧光材料
染料敏化太阳能电池、光催化材料
高校 / 科研院所光学材料、凝聚态物理研究
需温度依赖性的发光机理研究
六、与 311C 的区别
2585C：1024ch，分辨率约 0.6nm / 像素，250–850nm，侧重高分辨与紫外 - 可见精确测量。
311C：512ch，分辨率约 1.2nm / 像素，250–850nm，性价比更高，常规测量足够。