OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311C
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311COTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311C核心构成QE-2100 主机:含积分半球、激发光源、样品腔、检测模块。MCPD-311C 多通道光谱检测器:低杂散光、高灵敏度,负责光谱信号采集。专用软件:控制测量、数据解析、自动扫描与报告生成。150W Xe 激发光源单元:250–700nm 连续可调。主要规格激发光源
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311COTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311C核心构成QE-2100 主机:含积分半球、激发光源、样品腔、检测模块。MCPD-311C 多通道光谱检测器:低杂散光、高灵敏度,负责光谱信号采集。专用软件:控制测量、数据解析、自动扫描与报告生成。150W Xe 激发光源单元:250–700nm 连续可调。主要规格激发光源
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311C
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 311C

QE-2100 主机:含积分半球、激发光源、样品腔、检测模块。
MCPD-311C 多通道光谱检测器:低杂散光、高灵敏度,负责光谱信号采集。
专用软件:控制测量、数据解析、自动扫描与报告生成。
150W Xe 激发光源单元:250–700nm 连续可调。
光源:150W 氙灯(Xe)
波长范围:250–700nm(连续可调)
波长精度:±0.3nm
扫描方式:正弦杆(Sine Bar)自动扫描
波长范围:250–850nm
分光元件:全息光栅,F=3,f=135mm
检测器:电子冷却型 CCD(-10℃)
分辨率:约 1.2nm / 像素
杂散光抑制:紫外区超低杂散光设计
样品形态:粉末、溶液、固体、薄膜
核心功能:绝对量子效率、发射光谱、激发光谱、EEM(激发 - 发射矩阵)
光学设计:积分半球,高亮度、高收集效率
校正功能:可去除再激发荧光干扰,精度更高
主机:约 300×710×450mm,34kg
电源:AC100V±10V,750VA
绝对量子效率直接测量:无需标准样品,直接给出绝对值。
多形态样品兼容:固体、薄膜、粉末、溶液一机搞定。
低杂散光 + 积分半球:紫外测量更准,信号收集效率高。
再激发荧光校正:消除二次激发干扰,数据更可靠。
自动化与易用性:软件设定波长范围 / 步长,自动扫描测量。
LED/OLED 发光材料研发与质检
量子点、荧光粉、染料敏化太阳能电池
生物荧光探针、化学发光材料评价
高校 / 科研院所光学材料基础研究