OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 3683C
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 3683COTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 3683C模块化高精度绝对量子效率检测设备，搭载 3683C 检测器，覆盖近紫外至可见光波段，可对粉体、溶液、薄膜、固态材料开展荧光量子效率及各类光谱测试，适用于材料研发与性能标定。一、基础参数检测器型号：3683C波长范围：360–830nm光谱分辨率：标准 1.0nm，可选
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 3683C
OTSUKA 大塚电子 量子效率测量系统QE-2100 3683C
模块化高精度绝对量子效率检测设备，搭载 3683C 检测器，覆盖近紫外至可见光波段，可对粉体、溶液、薄膜、固态材料开展荧光量子效率及各类光谱测试，适用于材料研发与性能标定。
一、基础参数
检测器型号：3683C波长范围：360–830nm光谱分辨率：标准 1.0nm，可选 0.5nm 高分辨率探测元件：电子制冷 CCD，512 通道，16 位模数转换，低噪声设计杂散光控制：紫外区间杂散光抑制效果优异，大幅降低检测干扰积分半球：直径 150mm，高反射材质，光学损耗低激发光源：150W 氙灯，激发波长 250–800nm，搭配自动单色器，光谱带宽 5nm通讯接口：USB、以太网，支持远程控制供电规格：AC 100–240V 宽电压输入
二、可检测项目
量子效率：绝对量子产率、量子效率随激发波长变化数据，选配组件可检测温度相关特性
光谱测试：荧光发射光谱、光致发光激发光谱、三维荧光光谱、样品反射 / 透射 / 吸收光谱
色度参数：色度坐标、相关色温、显色指数
辅助校正：具备再激发荧光校正功能，消除样品自吸收带来的误差
三、产品特点
采用积分半球光路设计，可直接测量绝对量子效率，测量精度高、数据重复性好。
整体为模块化结构，各组件独立布局，后期功能拓展与设备维护便捷。
适配多种形态样品，配套可拆卸样品池，清洁与样品更换简单。
光谱采集速度快，支持自动波长扫描与三维荧光矩阵测试，自动化程度高。
配套分析软件功能全面，支持光谱解析、数据拟合、三维图谱展示及报告自动生成。
基础波段覆盖主流可见光区间，可按需拓展至近红外波段，适用范围更广。
四、应用场景
用于 LED 荧光粉、OLED 发光材料、量子点、稀土发光材料等新型发光材料检测；各类光学薄膜、滤光片的光学性能分析；荧光染料、生物标记物等液态样品测试；LED 灯珠、背光器件、车用光源发光效率评估；也可用于科研领域，研究材料量子效率随温度的变化规律。
五、使用规范
设备放置在干燥、避光区域，远离震动与强电磁环境，保持环境洁净。
取放样品及样品池时轻拿轻放，避免刮擦光学镜面与积分半球内壁。
按照样品类型选择对应样品池，测试完成后及时清洁，避免样品残留污染。
开机预热至设备状态稳定后再开展测试，定期使用标准样品完成整机校准。
运行过程中勿擅自拆卸光学组件、光源及检测器。
长期停用关闭总电源，做好整机防尘防护。