OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400D
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400DOTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400D通用宽波段高速检测机型，兼顾紫外边缘、可见光与近红外前段，通用性强，广泛用于全品类常规 LED 在线检测、参数判定及分光分色，适配各类量产生产线。一、基础参数波长范围：350–930nm波长精度：±0.3nm分光组件：闪耀全息光栅探测器：电子制冷型 CCD，低噪声、长期运行稳
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400D
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400D
通用宽波段高速检测机型，兼顾紫外边缘、可见光与近红外前段，通用性强，广泛用于全品类常规 LED 在线检测、参数判定及分光分色，适配各类量产生产线。
一、基础参数
波长范围：350–930nm波长精度：±0.3nm分光组件：闪耀全息光栅探测器：电子制冷型 CCD，低噪声、长期运行稳定单次光谱测量时间：最短 2 毫秒通讯触发：支持硬件信号触发，可与产线控制系统同步联动标配光纤：线长 2 米，探头直径 12mm，标准工作距离 2–8mm主机尺寸：280×160×296mm，整机重量约 10kg，功耗≤100VA合规标准：遵循 JIS、CIE 光度色度相关规范，测量数据可溯源
二、可检测项目
光谱参数：光谱功率分布、峰值波长、峰值强度、光谱半高宽、重心波长、指定波段光强
色度参数：三刺激值、色度坐标、主波长、刺激纯度、相关色温、色偏差、显色指数及各分项指数
其他参数：相对亮度，可拓展光谱辐照度检测功能
三、产品特点
波段覆盖面广，可兼容白光、彩光、浅紫外边缘 LED，通用适配性强。
测量响应速度快，满足高节拍生产线作业要求，不耽误生产进度。
主机与探头分体式设计，光纤布线灵活，可安装在狭小工位。
光学系统抗干扰能力强，长时间连续检测，数据稳定无漂移。
自带参数阈值判定与产品分级功能，可直接对接产线分拣设备。
机身小巧轻便，支持桌面、机架多种安装方式，适配车间现场环境。
四、应用场景
适用于通用照明 LED、彩色 LED、背光 LED、中小功率近紫外 LED 的封装分光分色、在线品质管控，也可用于对应光源来料检验、实验室快速对比测试以及成品抽检。
五、使用规范
光纤禁止大力拉扯、过度弯折，防止内部光路损坏。
保护探头光学面，禁止用手触碰镜片，定期清理表面灰尘。
设备安置在干燥通风位置，远离震动源与强电磁干扰区域。
根据产线运行节奏设置触发参数，定期使用标准光源完成整机校准。
长期停用及时切断电源，整理线缆与探头，做好防尘防护。