OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400C
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400COTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400C面向可见光至近红外波段的高速在线检测设备，适配红外 LED、特殊波段光源，可接入产线完成参数检测、良品判定与分光分色。一、基础参数波长范围：330–1100nm波长精度：±0.5nm分光部件：闪耀全息光栅探测器：电子制冷型 CCD，低噪声、运行稳定单次光谱测量时长：最短 2
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400C
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400C
面向可见光至近红外波段的高速在线检测设备，适配红外 LED、特殊波段光源，可接入产线完成参数检测、良品判定与分光分色。
一、基础参数
波长范围：330–1100nm波长精度：±0.5nm分光部件：闪耀全息光栅探测器：电子制冷型 CCD，低噪声、运行稳定单次光谱测量时长：最短 2 毫秒信号对接：支持硬件触发，可与产线控制系统同步运行标配光纤：长度 2 米，探头直径 12 毫米，适用工作距离 2–8 毫米主机规格：尺寸 280×160×296mm，重量约 10 千克，整机功耗不超过 100VA执行标准：符合 JIS、CIE 光度色度相关规范，测量数据可溯源
二、可检测项目
光谱参数：光谱功率分布、峰值波长、峰值强度、光谱半高宽、重心波长、指定波段光强
色度参数：三刺激值、色度坐标、主波长、刺激纯度、相关色温、色偏差、显色指数及分项指数
其他参数：相对亮度，可选配光谱辐照度检测
三、产品特点
波段覆盖可见光与近红外，针对性适配红外类 LED 及特种光源。
检测速度快，可匹配高节拍生产线，不影响整体生产效率。
主机与探头分体设计，光纤布设灵活，可安装在狭小作业工位。
整机抗干扰性强，长时间连续作业，检测数据无明显漂移。
自带参数判定、产品分级功能，可实时输出结果，对接产线分拣设备。
机身小巧轻便，支持桌面、机架等多种安装方式，适配车间环境。
四、应用场景
主要用于近红外 LED 封装分光分色、红外感应光源、补光类光源在线质检，也可用于对应波段光源来料检验、实验室快速测试与成品抽检。
五、使用规范
光纤避免大力拉扯、过度弯折，防止内部光路受损。
保持探头受光面清洁，禁止触碰光学镜片，定期清理灰尘。
设备放置在干燥通风区域，远离震动源与强电磁干扰。
根据生产工况设置触发参数，定期使用标准光源完成设备校准。
长期停机切断电源，整理收纳线材与探头，做好防尘防护。