OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400B
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400BOTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400B适配紫外至可见光波段的高速在线检测设备，主打 UV-LED、近紫外光源检测，可接入生产线完成参数测试、良品判定与分光分色。一、基础参数波长范围：220–800nm波长精度：±0.3nm分光部件：闪耀全息光栅探测器：电子制冷型 CCD，低噪声、稳定性佳单次光谱测量时长：最短 2
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400B
OTSUKA 大塚电子 高速LED光学特性仪 LE-5400B
适配紫外至可见光波段的高速在线检测设备，主打 UV-LED、近紫外光源检测，可接入生产线完成参数测试、良品判定与分光分色。
一、基础参数
波长范围：220–800nm波长精度：±0.3nm分光部件：闪耀全息光栅探测器：电子制冷型 CCD，低噪声、稳定性佳单次光谱测量时长：最短 2 毫秒信号对接：支持硬件触发，可与产线控制系统同步工作标配光纤：长度 2 米，探头直径 12 毫米，适用工作距离 2–8 毫米主机规格：尺寸 280×160×296mm，重量约 10 千克，整机功耗不超过 100VA执行标准：符合 JIS、CIE 光度色度相关规范，测量数据可溯源
二、可检测项目
光谱参数：光谱功率分布、峰值波长、峰值强度、光谱半高宽、重心波长、指定波段光强
色度参数：三刺激值、色度坐标、主波长、刺激纯度、相关色温、色偏差、显色指数及分项指数
其他参数：相对亮度，支持选配光谱辐照度检测
三、产品特点
覆盖深紫外到可见光波段，专为紫外 LED、近紫外光源检测设计。
测量响应速度快，可适配高节拍生产线，保障生产效率。
主机与探头分体式设计，光纤走线灵活，可安装在狭小工位。
光学组件抗干扰能力强，长时间连续运行数据稳定无漂移。
内置判定与分级功能，实时输出检测结果，可对接产线分拣设备。
机身轻便紧凑，支持桌面、机架多种安装形式，适配车间工况。
四、应用场景
适用于紫外 LED 封装分光分色、紫外杀菌光源、UV 固化光源在线质检，也可用于近紫外类光源来料检验、实验室样品快速测试与成品抽检。
五、使用规范
光纤严禁过度弯折、拉扯，避免损坏内部光路。
保持探头受光面洁净，不要触碰光学镜片，定期清理积尘。
检测紫外光源时做好防护，避免紫外线直射皮肤与眼部。
设备安置在干燥通风处，远离震动和强电磁干扰。
结合生产节奏设置触发参数，定期使用标准光源校准设备。
长期停用需关闭电源，整理线材与探头，做好防尘处理。