OTSUKA 大塚电子 分光辐射照度测量系统 多点型
OTSUKA 大塚电子 分光辐射照度测量系统 多点型OTSUKA 大塚电子 分光辐射照度测量系统 多点型多探头同步检测设备，可同时采集多个点位光谱、辐照度、照度、色度数据，适合大面积、多区域光照同步监测，多用于空间光分布评估、产线批量检测、环境光照验收。一、基础信息设备类型：多点分布式分光辐射照度系统波长范围：标配 300~850nm，可选 220~850nm 紫外、300~1700nm 近红外拓
OTSUKA 大塚电子 分光辐射照度测量系统 多点型
OTSUKA 大塚电子 分光辐射照度测量系统 多点型
多探头同步检测设备，可同时采集多个点位光谱、辐照度、照度、色度数据，适合大面积、多区域光照同步监测，多用于空间光分布评估、产线批量检测、环境光照验收。
一、基础信息
设备类型：多点分布式分光辐射照度系统波长范围：标配 300~850nm，可选 220~850nm 紫外、300~1700nm 近红外拓展计量溯源：支持 JCSS 计量标准溯源探头配置：可搭载多路独立探测探头，点位数量灵活选配适配光源：通用照明、UV 光源、植物生长灯、模拟太阳光光源等
二、核心技术参数
光谱分辨率：约 1.0nm接收特性：每路探头均带余弦校正，符合光度检测标准采样模式：多路同步采样，实时同步读数响应速度：采样迅速，支持长时间连续监测量程范围：单探头宽动态，兼容弱光至常规强光布线方式：有线连接，探头可远距离布放
三、可检测项目
照度辐照类：各点位光谱辐照度、总辐照度、可见光照度
光谱类：光谱功率分布、峰值波长、色纯度
色度类：色度坐标、色温、显色指数、色偏差
专项参数：紫外有效强度、光合光子通量密度、多点光照均匀度
四、产品特点
多探头同步作业，一次完成多个点位检测，效率大幅提升。
探头可分散布置，覆盖大范围空间，适配复杂场地检测需求。
各路探头独立校准，点位之间互不干扰，数据一致性好。
支持长时间连续监测，自动记录数据，适配工况巡检与环境监测。
拓展性强，可按需增减探头数量，灵活搭配使用场景。
数据可溯源，满足质检、工程验收与实验分析要求。
五、应用场景
照明工程：厂房、场馆、展厅等大面积区域光照均匀度检测与验收。
消杀领域：空间紫外消毒设备多点辐照强度分布测试。
农林种植：温室、大棚多点光照参数监测，评估补光效果。
产线检测：灯具量产工位批量同步抽检，把控产品一致性。
科研实验：模拟光源、光学环境的多区域光参数对比测试。
六、使用规范
主机放置在平稳干燥区域，线路规整排布，避免挤压拉扯。
探头摆放稳固，尽量垂直受光面，远离遮挡与强电磁干扰。
检测紫外光源时，全程做好防护，避免紫外线直射人体。
保持探头光学窗口清洁，禁止触碰镜片，定期清理灰尘。
定期对所有探头统一校准，保障整体测量精度。
长期停用断开电源，探头收纳做好防尘防护。