OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-2000
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-2000OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-2000长光程大功率紫外分光配光设备，兼容 Type-B、Type-C 两种光路制式，搭配双轴测角结构，可同步检测配光、光谱、辐射通量，适用于大尺寸、大功率紫外灯具，广泛用于工业检测、产品研发与合规认证。一、基础信息光学制式：Type-B、Type-C 双光路兼容标准测试光程：1500m
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-2000
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-2000
长光程大功率紫外分光配光设备，兼容 Type-B、Type-C 两种光路制式，搭配双轴测角结构，可同步检测配光、光谱、辐射通量，适用于大尺寸、大功率紫外灯具，广泛用于工业检测、产品研发与合规认证。
一、基础信息
光学制式：Type-B、Type-C 双光路兼容标准测试光程：1500mm~12000mm波长范围：220~850nm，覆盖全波段紫外与可见光计量能力：支持 JCSS 计量标准溯源适配样品：大功率 UVC 杀菌灯、工业 UV 固化灯、大型紫外模组、泛光紫外灯具、超长直管紫外光源
二、核心技术参数
测角结构：双轴 αβ/θφ 精密测角仪角度范围：θ 轴 ±90°，φ 轴 0°~360°，可软件限定扫描区间角度重复精度：≤0.05°光谱通道：可选 512 通道、1024 通道光谱分辨率：约 1.0nm动态范围：量程跨度大，可检测弱紫外光至大功率强紫外光源单次完整测量时长：3~8 分钟整机做深紫外光学优化，杂散光抑制效果好，检测信噪比高
三、可检测项目
配光类：空间紫外辐射强度分布、配光曲线、光束角、辐射均匀性、峰值辐射强度
光谱类：全光谱功率分布、各紫外波段能量占比、峰值波长、光谱半高宽
辐射类：总紫外辐射通量、指定波段有效辐照度、光源辐射效率
其他：发光角度偏差、远距离紫外能量衰减、全角度光学性能分析
四、产品特点
双光路制式切换，适配不同行业检测标准，适用场景更广。
长光程设计，可容纳大型灯具、超长管状光源，满足大功率产品测试需求。
深紫外检测性能优异，UVC 波段测量精准，数据稳定性强。
测角精度高，可精准捕捉大尺寸光源不同角度的能量分布差异。
一体化同步测试，一次扫描完成多项参数采集，提升整体检测效率。
设备结构稳固，防尘抗干扰，可长期在暗室环境连续运行，数据可用于第三方认证。
五、应用场景
消杀行业：大型紫外杀菌设备、大功率杀菌灯具的配光与效能检测。
工业领域：UV 固化、紫外曝光等工业大功率光源的光学性能测试。
光电行业：大型紫外模组、整机组装产品的来料检验与出厂质检。
研发实验：新型大功率紫外光源、光学器件的性能验证与工艺优化。
合规认证：按照行业标准完成全参数检测，出具正规检测报告。
六、使用规范
设备安装在专用暗室，场地保持平整无尘，远离震动与强电磁干扰。
作业时必须佩戴专业防护用具，避免紫外线直射皮肤和眼部。
搬运、安装大型样品轻拿轻放，防止撞击测角机构与光学部件。
光路切换、波段、角度等参数设置，由专业人员操作调整。
定期使用标准紫外光源校准设备，保证测量精度。
长期停机做好防尘防潮处理，断开设备总电源。