OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-510U
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-510UOTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-510U紧凑型紫外专用分光配光设备，采用 Type-C 光路结构，聚焦紫外波段检测，可同步完成配光分布、光谱、辐射通量测试，专为小型紫外发光器件打造，适用于研发、质检与性能标定。一、基础信息光学制式：Type-C 样品旋转式结构标准测试光程：500mm 以内波长范围：200–850nm，
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-510U
OTSUKA 大塚电子 紫外分光配光测量系统 GP-510U
紧凑型紫外专用分光配光设备，采用 Type-C 光路结构，聚焦紫外波段检测，可同步完成配光分布、光谱、辐射通量测试，专为小型紫外发光器件打造，适用于研发、质检与性能标定。
一、基础信息
光学制式：Type-C 样品旋转式结构标准测试光程：500mm 以内波长范围：200–850nm，覆盖深紫外至可见光计量溯源：支持 JCSS 标准溯源适配样品：UVC-LED、小型紫外灯珠、紫外发光模组、微型杀菌光源
二、核心技术参数
测角结构：双轴 θ/φ 精密测角仪角度范围：θ 轴 ±90°，φ 轴 0°~360°，可软件限定区间角度重复精度：≤0.05°光谱分辨率：约 1.0nm动态范围：适配微弱紫外光至常规紫外光源单次完整测量时长：1~3 分钟整机专为紫外光学优化，抑制杂光干扰
三、可检测项目
配光类：空间紫外辐射强度分布、配光曲线、光束角、辐射均匀性
光谱类：全光谱功率分布、各紫外分段光谱占比
辐射类：总紫外辐射通量、有效波段辐照强度
其他：发光角度偏移、不同角度下紫外能量变化
四、产品特点
深度优化深紫外检测能力，200nm 波段响应灵敏，检测精度高。
双轴高精度测角，精准捕捉紫外光源角度方向的能量差异。
一体化同步测试，一次扫描获取配光、光谱、辐射等全部数据。
机身紧凑，占用空间小，适配实验室及小型检测工位。
抗杂光设计，暗室环境下运行稳定，数据重复性好。
数据可溯源，满足产品测试、认证相关要求。
五、应用场景
消杀行业：UVC 灯珠、微型紫外杀菌模组的配光与效能检测。
光电领域：紫外 LED 元器件来料检验、出厂品质管控。
工业应用：小型 UV 固化光源、曝光光源光学角度性能测试。
产品研发：新型紫外器件光学结构、工艺参数优化实验。
合规检测：紫外光源光学参数验证，出具标准测试数据。
六、使用规范
设备需安装在专用暗室，环境保持平稳无尘，远离震动与电磁干扰。
操作过程全程做好防护，严禁紫外线直射皮肤与眼部。
取放样品动作轻柔，避免碰撞测角机构与光学镜片。
波段、角度、测试程序等参数调整，由专业人员操作。
定期使用标准紫外光源完成设备校准，保证测量准确度。
长期停机做好防尘处理，切断设备总电源。