OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-1100
OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-1100OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-1100一、基础信息光学制式：Type-C适用样品：Mini/Micro LED、OLED 面板、中小型照明模组、车灯模块标准测试光程：500mm～1500mm结构形式：双轴精密测角结构，样品旋转式设计执行标准：CIE121、IESNA LM-75二、核心技术参数测角轴：双轴 θ/φ 测角仪角度
OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-1100
OTSUKA 大塚电子 分光配光测量系统 GP-1100
一、基础信息
光学制式：Type-C适用样品：Mini/Micro LED、OLED 面板、中小型照明模组、车灯模块标准测试光程：500mm～1500mm结构形式：双轴精密测角结构，样品旋转式设计执行标准：CIE121、IESNA LM-75
二、核心技术参数
测角轴：双轴 θ/φ 测角仪角度范围：θ 轴 ±90°，φ 轴 0°~360°，可软件限定检测区间角度重复精度：≤0.05°标配波长范围：300~950nm，可选拓展至 220~850nm 紫外波段光谱通道：可选 512 通道、1024 通道光谱分辨率：512 通道约 1.4nm，1024 通道约 0.7nm亮度测量范围：10⁻⁴~10⁶ cd/m²单样品完整测量时长：2~5 分钟
三、可检测项目
配光类：空间发光强度分布、配光曲线、光束角、眩光分布
光谱类：相对光谱功率分布、辐射通量
色度类：色度坐标、色温、色偏差、主波长、色纯度、显色指数
其他：总光通量、发光效率、光学均匀性
四、产品特点
适配中距离测试场景，可容纳模组、中小型面板等中等尺寸样品。
配光、光谱、色度同步采集，单次测量获取全部数据，提升检测效率。
角度控制精度高，能精准识别样品发光角度的细微差异。
光谱覆盖可见光与近红外，搭配拓展组件可实现紫外检测，适配多种光源。
全程自动化扫描，减少人工操作带来的误差，支持文件导出与报告生成。
专为暗室环境设计，运行稳定，抗震动、抗电磁干扰，可长时间连续工作。
五、应用场景
显示行业：Mini/Micro LED 模组、OLED 面板的视角、亮度、色度检测。
照明行业：室内灯具、商用照明模组的性能测试与品质管控。
汽车领域：车灯模块、信号灯的配光及色温合规性检测。
研发实验：新型发光器件、光学材料的性能验证与工艺优化。
品控环节：产品来料抽检、出厂全检、不良问题分析。
六、使用规范
设备需放置在暗室内，场地保持平稳、无尘，远离震动源与强电磁干扰。
放置与取拿样品时轻缓操作，避免碰撞测角机构及光学部件。
波段、角度、程序等参数调整，由专业人员操作设置。
定期使用标准光源完成设备校准，保障测量数据准确。
长期停用做好防尘防护，切断设备总电源。