OTSUKA 大塚电子 多通道光谱仪 MCPD-9800
OTSUKA 大塚电子 多通道光谱仪 MCPD-9800OTSUKA 大塚电子 多通道光谱仪 MCPD-9800一、基础信息测量原理：分光检测，光纤传导光路整体波段覆盖：220–1600nm，分多款标准波段版本可选检测器：电子冷却 CCD、InGaAs 两种类型可选通讯接口：USB、LAN标配光纤：石英材质，接头规格 φ12mm，长度 2m整机尺寸：105×230×280mm整机重量：6kg供电：
OTSUKA 大塚电子 多通道光谱仪 MCPD-9800
OTSUKA 大塚电子 多通道光谱仪 MCPD-9800
一、基础信息
测量原理：分光检测，光纤传导光路整体波段覆盖：220–1600nm，分多款标准波段版本可选检测器：电子冷却 CCD、InGaAs 两种类型可选通讯接口：USB、LAN标配光纤：石英材质，接头规格 φ12mm，长度 2m整机尺寸：105×230×280mm整机重量：6kg供电：交流 100–240V，50/60Hz，功耗 125VA
二、技术参数
光谱分辨率：0.5–1.9nm / 像素，依波段版本略有差异最短全光谱测量时间：5ms曝光时间范围：紫外可见光 5ms–20s，近红外 1ms–10s测量光斑：标准 φ1.2mm杂散光：＜1%动态范围：≥10⁶信噪比：＜0.1%膜厚测量范围：65nm–92μm（二氧化硅换算）薄膜解析：支持单层、多层膜分析
三、可检测项目
光谱类：透射光谱、反射光谱、各类发光光谱色度类：色度坐标、色温、色差、显色指数膜层类：薄膜厚度、折射率、消光系数其他：光强、照度、偏振相关参数
四、产品特点
响应速度极快，毫秒级完成全光谱采集，适配高速量产产线。
宽动态范围，强弱光场景均可稳定测量，适配透明、高反射等不同样品。
多波段版本齐全，从深紫外到近红外全覆盖，适用材质广泛。
光纤光路布局灵活，可嵌入各类自动化设备、显微系统，集成难度低。
低杂散光设计，紫外波段测量精度表现优异。
支持远程通讯控制，可对接产线控制系统，实现 24 小时不间断在线监测。
测量数据可溯源，长期运行稳定性强，适配工业洁净环境。
五、应用场景
显示行业：光学膜、偏光片、ITO 膜、背光组件的光谱、色度、膜厚在线检测。
半导体行业：晶圆镀膜、光刻胶、氧化层厚度监测，制程工艺终点判断。
照明领域：LED、车载灯具、各类光源的光谱、色温、光学性能评测。
光学元件：透镜、滤光片、镀膜器件的光学参数检验。
新材料研发：薄膜、涂层、高分子材料的光谱特性与膜层分析。
六、使用规范
设备放置在平稳、干燥区域，远离震动、粉尘与强电磁干扰。
光纤不可大力弯折、挤压，定期清洁探头端面，保证光路通畅。
设备校准、波段切换、参数设置由专业人员操作，禁止随意改动。
定期使用标准试样校验精度，长期停机做好防尘并切断电源。