OTSUKA 大塚电子 彩色滤光片 / 彩色光刻胶测量装置 LCF 系列
OTSUKA 大塚电子 彩色滤光片 / 彩色光刻胶测量装置 LCF 系列OTSUKA 大塚电子 彩色滤光片 / 彩色光刻胶测量装置 LCF 系列一、基础信息设备型号：LCF 系列测量原理：紫外可见光谱透射、反射检测结合干涉膜厚解析，非接触无损测量检测对象：RGB 彩色滤光片、黑矩阵、彩色光刻胶，同时兼容 ITO、PI、OC 等膜层适配基板：玻璃、石英材质，可支持大尺寸显示面板基板光学配置：集成多波
OTSUKA 大塚电子 彩色滤光片 / 彩色光刻胶测量装置 LCF 系列
OTSUKA 大塚电子 彩色滤光片 / 彩色光刻胶测量装置 LCF 系列
一、基础信息
设备型号：LCF 系列测量原理：紫外可见光谱透射、反射检测结合干涉膜厚解析，非接触无损测量检测对象：RGB 彩色滤光片、黑矩阵、彩色光刻胶，同时兼容 ITO、PI、OC 等膜层适配基板：玻璃、石英材质，可支持大尺寸显示面板基板光学配置：集成多波段光源与高分辨率光谱检测组件运行环境：适配洁净车间，防尘、抗振动设计
二、技术参数
标配光谱范围：380–780nm，可选拓展至 230–1700nm光谱分辨率：≤1nm测量光斑：φ5μm~φ50μm，最小可达 φ3μm运动载台：全自动 XYθ 三轴载台，标准行程 300×300mm，可定制更大尺寸单点测量时长：＜1 秒膜厚测量范围：1nm~50μm膜厚重复精度：≤±0.1nm色度精度：xy 坐标≤±0.002多层解析能力：最多支持 10 层薄膜结构分析，可输出折射率、消光系数自动化功能：具备自动对焦、像素对位、程序一键运行功能
三、可测项目
光学类：透射光谱、反射光谱、XYZ、Lab、xy 等色度参数、色差、光学浓度 OD
尺寸类：像素线宽、像素幅宽
膜层类：薄膜厚度、折射率、消光系数、多层膜结构分析
四、产品特点
功能集成度高，一台设备即可完成彩色滤光片与彩色光刻胶多项指标检测，无需搭配多台仪器。
微光斑设计，可针对单个 RGB 像素区域开展微区检测，满足精密制程管控要求。
三轴全自动载台支持全域扫描测绘，检测效率高，适合大批量样品连续检测。
可解析多层叠加膜系，精准分析彩色膜与导电膜、涂层组合结构的各项参数。
运行稳定，适配显示行业生产环境，可长时间不间断作业。
五、应用场景
显示面板生产：LCD、OLED 彩色滤光片、黑矩阵、彩色光刻胶的日常品质检测与均匀性筛查。
基板检测：面板基板表面 ITO、PI、保护层等功能膜层厚度与光学参数检验。
材料研发：彩色光刻胶、滤光片新材料配方调试、工艺参数优化。
品质分析：产品色差、膜厚异常溯源，制程良率统计与管控。
六、使用规范
设备放置在平稳、无尘、避光区域，远离强震动与电磁干扰。
取放基板与样品时轻拿轻放，避免划伤光学镜头和样品表面，保持光路洁净。
按照样品类型选用对应检测程序，非专业人员禁止修改核心参数与校准设置。
定期使用标准试片完成精度校准，长期停机做好防尘防护。