OTSUKA 大塚电子 高速相位差测量装置 RE-200
OTSUKA 大塚电子 高速相位差测量装置 RE-200OTSUKA 大塚电子 高速相位差测量装置 RE-200紧凑型台式检测设备，采用非机械旋转式光学结构，检测速度快、稳定性高，主打超低残留相位差高精度检测，适用于光学薄膜、显示材料、透明基材的实验室分析与产线快速质检。一、基础信息测量原理：光子晶体偏振模块 + CCD 偏振成像光源：标配 100W 卤素灯，可选配 LED 光源标准检测波长：55
OTSUKA 大塚电子 高速相位差测量装置 RE-200
OTSUKA 大塚电子 高速相位差测量装置 RE-200
紧凑型台式检测设备，采用非机械旋转式光学结构，检测速度快、稳定性高，主打超低残留相位差高精度检测，适用于光学薄膜、显示材料、透明基材的实验室分析与产线快速质检。
一、基础信息
测量原理：光子晶体偏振模块 + CCD 偏振成像光源：标配 100W 卤素灯，可选配 LED 光源标准检测波长：550nm，可拓展多波长规格整机尺寸：300×430×560mm设备重量：约 20kg适配样品尺寸：10×10mm ~ 100×100mm标准测量光斑：φ2.2mm，选配显微物镜可达 φ20μm
二、技术参数
相位差测量范围：0nm ~ 1μm相位差测量精度：≤±0.1nm光轴重复精度：3σ≤0.02°单次测量时长：≤0.1 秒常规检测项目：相位差、主轴方位角、椭圆率、三维折射率
三、产品特点
无机械旋转部件，依靠 CCD 一次成像完成检测，响应速度极快，适配高速抽检场景。
可精准检测趋近于 0nm 的超低残留相位差，适配低双折射高端薄膜与透明材料。
结构简化，运行无机械漂移，长时间连续作业数据稳定可靠。
操作流程简单，一键启动测量，校准与参数设置难度低。
支持多波长拓展，可覆盖紫外、可见光、近红外多个波段。
搭配专用治具后，可实现面外相位差 Rth 及多角度参数测量。
四、应用场景
显示领域：LCD、OLED 所用相位差膜、偏光膜、取向膜、视角补偿膜、ITO 膜检测。
光学薄膜：增透膜、红外截止膜、各类保护膜的相位差与均匀性评测。
透明基材：光学玻璃、树脂、亚克力等材料，检测内应力及形变引发的双折射。
高分子材料：薄膜受拉伸、挤压工况下的光弹性与偏振特性分析。
精密光学元件：各类偏振相关元器件的光学参数校验。
五、使用规范
设备放置在平稳、避光、无尘环境，远离震动与强电磁干扰。
取放样品动作轻柔，避免划伤光学镜片与样品表面，保持光路洁净。
根据检测需求选择对应波长与测量模式，非专业人员勿改动核心设置。
定期使用标准试片完成校准，长期闲置时做好防尘防护。
六、使用方法
接通电源，启动设备及配套软件，完成预热与自检。
将待测样品平稳放置在样品台，完成对位。
选定测量参数，启动检测，设备快速输出各项数据。
查看、保存或导出检测结果，检测完成后取下样品。
作业结束，清理样品台，依次关闭软件与设备电源。