OTSUKA 大塚电子 相位差测量装置 RETS-100nx New
OTSUKA 大塚电子 相位差测量装置 RETS-100nx NewOTSUKA 大塚电子 相位差测量装置 RETS-100nx New一、基础信息设备型号：RETS-100nx New测量原理：多通道分光偏振解析光谱范围：400nm~800nm 可见光波段，单次采集近 500 组波长数据整机尺寸：500×600×700mm设备重量：约 120kg光源规格：100W 卤素灯标准测量光斑：φ2mm标
OTSUKA 大塚电子 相位差测量装置 RETS-100nx New
OTSUKA 大塚电子 相位差测量装置 RETS-100nx New
一、基础信息
设备型号：RETS-100nx New测量原理：多通道分光偏振解析光谱范围：400nm~800nm 可见光波段，单次采集近 500 组波长数据整机尺寸：500×600×700mm设备重量：约 120kg光源规格：100W 卤素灯标准测量光斑：φ2mm标准样品台：100×100mm 固定载台
二、技术参数
相位差 Re 测量范围：0~60000nm相位差重复精度：3σ≤0.08nm（600nm 标准水晶波片）液晶盒厚 Cell Gap 测量范围：0~600μm（Δn=0.1 条件下）盒厚重复精度：3σ≤0.005μm（3μm 标准盒厚）光轴检测精度：3σ≤0.08°单次测量耗时：小于 2 秒，同步输出全波长及各项参数
三、产品特点
量程覆盖面广，可检测常规光学膜以及高双折射补偿膜，测量精度优异，有效规避厚度干涉带来的误差。
支持多层复合膜无损解析，无需拆分样品，可分别检测各层相位差、光轴角度与贴合角度。
具备光轴角度自动补偿功能，样品小幅摆放偏差可自动修正，降低对位操作难度，保障数据稳定。
功能集成度高，可同步检测 Re、Rth、光轴角、偏光度、消光比、盒厚等多项参数。
检测速度快，操作界面简洁，支持一键测量与自动生成检测报告，上手简单。
四、应用场景
显示行业：OLED 偏光片、各类液晶面板用相位差膜、TAC 膜、复合补偿膜检测。
液晶面板：液晶盒厚、预倾角、扭曲角、配向角测量。
光学领域：PET 膜、PI 膜、涂布膜、偏振波片等光学元件参数评测。
材料研发：新型薄膜双折射性能、波长色散特性分析，辅助生产工艺优化。
五、使用规范
设备放置在平稳、避光、无尘的室内环境，远离强电磁干扰与剧烈震动区域。
轻拿轻放样品，避免划伤光学镜片与样品表面，保持测量光路洁净。
按照样品类型选择对应测量模式，非专业人员请勿随意改动核心参数。
定期使用标准试片完成设备校准，长期停机做好防尘防护。
六、使用方法
接通电源，启动设备与配套软件，等待设备完成自检预热。
将待测样品平整放置在样品台，完成简易对位。
选定测量模式，启动检测，设备自动采集并计算各项光学参数。
查看数据结果，按需保存、导出检测报告。
检测完成后取下样品，清理样品台，长期停用依次关闭设备与电源。