OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【离线型】
OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【离线型】OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【离线型】实验室 / 质检工位专用线扫描检测设备，采用非接触式全域扫描，针对裁切后的膜材、板材做整面厚度测绘，用于抽样检测、工艺分析与样品评测，不接入自动化产线。一、基础信息测量原理：分光干涉法，搭配 FFT 膜厚解析算法光源：高稳定白光 LED检测形式：线扫描全域检测设备整体为台式结构，分体扫描探头搭配专用检测平台
OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【离线型】
OTSUKA 大塚电子 线扫描膜厚仪【离线型】
实验室 / 质检工位专用线扫描检测设备，采用非接触式全域扫描，针对裁切后的膜材、板材做整面厚度测绘，用于抽样检测、工艺分析与样品评测，不接入自动化产线。
一、基础信息
测量原理：分光干涉法，搭配 FFT 膜厚解析算法光源：高稳定白光 LED检测形式：线扫描全域检测设备整体为台式结构，分体扫描探头搭配专用检测平台供电规格：AC100V±10%，额定功率 125VA数据输出：二维厚度分布图、横纵向厚度趋势、检测报告
二、技术参数
膜厚测量范围：0.7μm~300μm空间分辨率：横向、纵向均为 1mm有效扫描幅宽：标准 500mm，可按需扩展扫描间隔：最短 10ms波长分辨率：约 0.6nm / 像素最大待测样品尺寸：适配常规卷材切片、板材试样
三、产品特点
台式离线设计，部署灵活，适合实验室、质检室抽样检测使用。
线扫描全覆盖检测，完整呈现样品表面厚度分布，无检测盲区。
扫描速度快，检测效率高，可快速完成大面积样品测绘。
非接触无损检测，不会损伤薄膜、涂层等精密样品。
光学系统稳定性强，数据重复性好，满足实验分析与品质判定要求。
内置数据分析功能，自动生成图谱与报告，便于存档和比对。
操作简单，参数设置直观，新手可快速上手。
四、使用规范
设备放置在无尘、平稳、无强光直射的室内环境。
检测前清理样品表面灰尘、杂物，保持检测面洁净。
轻拿轻放扫描探头，禁止磕碰光学窗口，避免划伤镜片。
样品放置平稳，运行过程中不得触碰扫描机构与载台。
定期清洁光学部件，长期闲置做好防尘防护。
非工作人员请勿擅自更改扫描参数与系统配置。
五、使用方法
接通电源，启动设备及配套软件，等待完成自检。
根据样品规格，设置扫描范围、采样间隔、判定标准等参数。
将待测样品平整放置在检测平台并固定。
启动扫描程序，设备自动完成全域数据采集。
查看厚度分布图谱与各项数据，按需导出检测报告。
检测完成后取出样品，清理平台，关闭设备电源。
六、应用场景
用于光学膜、涂布膜、塑料薄膜、复合板材、柔性基材等成品切片、实验试样的厚度检测，适用于产品研发、工艺调试、来料抽检、第三方品质分析等场景。