OTSUKA 大塚电子 Smart膜厚仪 Pro
OTSUKA 大塚电子 Smart膜厚仪 ProOTSUKA 大塚电子 Smart膜厚仪 Pro一、基础信息品牌：OTSUKA 大塚电子型号：SM-100P测量原理：反射分光干涉法整机尺寸：138×198×61mm整机重量：约 1.1 千克（含电池）操作方式：彩色触摸屏供电方式：内置锂电池，续航约 4 小时；也可使用 AC100-240V 电源适配器供电探头特性：可 270° 旋转，适配多角度检测
OTSUKA 大塚电子 Smart膜厚仪 Pro
OTSUKA 大塚电子 Smart膜厚仪 Pro
一、基础信息
品牌：OTSUKA 大塚电子型号：SM-100P测量原理：反射分光干涉法整机尺寸：138×198×61mm整机重量：约 1.1 千克（含电池）操作方式：彩色触摸屏供电方式：内置锂电池，续航约 4 小时；也可使用 AC100-240V 电源适配器供电探头特性：可 270° 旋转，适配多角度检测
二、技术参数
测量范围：单层膜 0.1μm~100μm；多层膜 1μm~100μm，最大支持 3 层膜检测分辨率：0.01μm重复精度：标准试样测试下，2.1σ≤0.01μm测量光斑：直径不大于 1mm单次测量时长：1 秒以内光源：白色 LED数据传输：配备 USB 接口，可导出检测数据
三、产品特点
便携易移动，手持设计搭配电池供电，不受场地限制。
非接触式检测，不会划伤、污染样品，实现无损测量。
通用性强，可适配玻璃、塑料、金属等各类基材，无需制作校准曲线。
支持三层复合膜同步检测，满足多层涂层、复合薄膜的检测需求。
探头旋转设计，可完成曲面、工件边缘等常规位置难以测量的点位。
操作简单，触屏操控，检测速度快，适合批量检测作业。
四、使用规范
设备远离强光、震动及粉尘环境，避免光学部件受损。
检测前清理样品表面灰尘与污渍，保证检测面洁净平整。
使用时轻拿轻放，禁止磕碰探头镜片。
锂电池定期充放电，长期存放需保持适中电量。
设备出现故障请勿自行拆解，联系专业人员检修。
五、使用方法
开机完成设备自检，根据被测样品选择单层或多层测量模式。
录入膜层折射率等对应参数，完成参数设置。
调整探头角度，对准待测区域并保持平稳。
启动测量，查看并记录膜厚数据。
检测全部完成后关闭设备，妥善收纳主机与配件。
六、版本对比
SM-100P Pro 版：最低测量厚度 0.1μm，支持最多 3 层膜，精度 0.01μm，适用于高精度、多层膜检测场景SM-100S 标准版：最低测量厚度 1μm，仅支持单层膜，精度 0.1μm，适用于常规单层膜筛查
七、应用场景
广泛用于光学薄膜、半导体晶圆涂层、光刻胶、显示面板膜层、柔性材料镀膜、硬化涂层、防指纹膜、树脂薄膜等产品的厚度检测，适用于产品研发、产线巡检、成品品质检验等环节。