OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLAOTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA专业纳米颗粒粒径专用检测设备，主打多样品批量测试，采用动态光散射技术，适配高低浓度、有机溶剂体系，温控范围广，操作简单，适用于实验室研发与工业批量质检。一、基本信息品牌：OTSUKA 大塚电子型号：nanoSAQLA核心功能：仅检测纳米颗粒粒径，不含 ZETA
OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
OTSUKA 大塚电子 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
专业纳米颗粒粒径专用检测设备，主打多样品批量测试，采用动态光散射技术，适配高低浓度、有机溶剂体系，温控范围广，操作简单，适用于实验室研发与工业批量质检。
一、基本信息
品牌：OTSUKA 大塚电子
型号：nanoSAQLA
核心功能：仅检测纳米颗粒粒径，不含 ZETA 电位、分子量检测
整机尺寸：240×480×375mm
设备重量：约 18kg
供电规格：AC220V，50/60Hz，额定功率 250VA
二、检测原理
采用动态光散射法，搭配半导体激光器与高灵敏度 APD 检测器，通过分析颗粒布朗运动产生的光信号变化，计算颗粒粒径分布。
三、技术参数
- 测量范围粒径：0.6nm~10μm，直方图分析模式下最低可测至 0.2nm样品浓度：0.00001%~40%常规样品用量：1.2mL，选配微量池最低 20μL
- 温控参数温控区间：0℃~90℃，支持温度梯度测试控温精度：±0.1℃
- 光学配置光源：660nm、70mW 半导体激光器检测器：高灵敏度 APD 检测器
- 基础测试效率单样品测试时长约 1 分钟，主机标配 5 个独立样品位。
四、产品概述
该设备为纯粒径分析仪器，聚焦纳米及微颗粒尺寸检测，机身结构紧凑。非浸入式检测设计配合独立样品池，可有效避免样品交叉污染。设备可直接检测高浓度、高盐及含有机溶剂的样品，无需额外稀释。配套操作软件简洁易用，支持一键启动测试，也可完成温度梯度相关试验，满足常规检测与深度物性研究需求。可搭配 AS50 自动进样器拓展为 50 位高通量测试系统。
五、使用规范
设备放置在平稳、避光、无震动及强电磁干扰的环境中。
样品需过滤去除大颗粒杂质，防止影响检测结果。
按照样品体积选用对应样品池，放置到位后再启动设备。
运行过程中禁止触碰光路、检测腔体等核心部件。
严格遵循额定温控范围设置参数，禁止超温使用。
测试完成后及时清理样品池，长期闲置做好防尘防护。
六、使用方法
接通电源，启动仪器，完成开机自检与预热。
根据测试需求设置温度、检测时长等参数。
将待测样品装入样品池，放置至设备检测工位。
启动测试程序，检测结束后读取并保存数据。
取出并清洁样品池，设备使用完毕后关闭电源。
七、产品特点
专注粒径检测，针对性强，数据稳定性与重现性优异。
样品适配范围广，兼容高浓度、高盐、有机溶剂体系。
多样品位设计，支持同时放置多个样品，提升检测效率。
配备常规与微量两种样品池，可满足不同样品用量需求。
宽域精准控温，可开展样品热稳定性、相变等温度相关测试。
非接触式检测，搭配独立耗材，杜绝样品交叉污染。
操作流程简单，上手门槛低，适合批量常态化检测。
八、应用场景
广泛用于纳米新材料、陶瓷粉体、涂料油墨、半导体浆料、锂电材料、化妆品、生物医药纳米制剂、水处理材料等行业，主要完成颗粒粒径、分散状态的分析检测。