OTSUKA 大塚电子

OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50

OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50面向高通量纳米颗粒粒径分析的全自动测试平台,由 nanoSAQLA 主机与 AS50 自动进样器组成,主打50 样品连续自动测量,兼顾微量、高浓度及有机溶剂样品适配,测试速度快、无污染风险,适合科研与工业批量质控场景。一、基本信息品

OTSUKA 大塚电子  多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50

OTSUKA 大塚电子  多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50




面向高通量纳米颗粒粒径分析的全自动测试平台,由 nanoSAQLA 主机与 AS50 自动进样器组成,主打50 样品连续自动测量,兼顾微量、高浓度及有机溶剂样品适配,测试速度快、无污染风险,适合科研与工业批量质控场景。

一、基本信息

  • 品牌:OTSUKA 大塚电子

  • 型号:nanoSAQLA AS50(主机 nanoSAQLA + 自动进样器 AS50)

  • 核心功能:纳米颗粒粒径测量(无 ZETA 电位 / 分子量)

  • 主机尺寸:240×480×375mm

  • 供电:AC220V 50/60Hz,250VA

  • 主机重量:约 18kg

二、检测原理

  • 粒径测量:动态光散射法(DLS,光子相关法)

  • 光源:高功率半导体激光器(660nm,70mW)

  • 检测器:高灵敏度 APD

三、技术参数

1. 粒径测量(主机 nanoSAQLA)

  • 测量范围:0.6nm~10μm(直方图分析可达 0.2nm)

  • 样品浓度:0.00001%~40%(适配稀液至高浓度浆料)

  • 样品用量:常规 1.2mL 起;微量池 20μL 起;AS50 配一次性池最小 0.4mL

  • 测试时间:约 1 分钟 / 样品(高速自动定位)

  • 温控范围:0℃~90℃(带温度梯度功能)

  • 控温精度:±0.1℃

2. 自动进样器 AS50

  • 连续样品数:最多 50 个

  • 样品池:玻璃一次性比色皿(适配有机溶剂)

  • 进样量:最小 0.4mL

  • 特殊功能:测量中可追加样品,无需停机

  • 温控范围:15℃~40℃(AS50 模块)

四、产品概述

nanoSAQLA 为专用粒径测试仪,无电位 / 分子量模块,专注纳米颗粒尺寸分析。标配 5 位独立样品位,非浸入式设计,无交叉污染;搭配 AS50 自动进样器,升级为 50 样品高通量系统,适合批量筛选与长期稳定性测试。
软件极简,支持一键测量与温度梯度实验;光学系统自动适配高低浓度样品,无需手动调整光路,高盐、高浊样品可直接测试。

五、核心特点

  1. 高通量自动测量:AS50 实现 50 样品连续测试,中途可加样,效率高。

  2. 无污染设计:独立样品池 + 一次性耗材,杜绝交叉污染。

  3. 宽适配能力:0.6nm~10μm 粒径、0.00001%~40% 浓度,兼容有机溶剂。

  4. 高速精准:1 分钟 / 样品,高灵敏度 APD,数据重现性 ±2%。

  5. 宽温域梯度:0℃~90℃温控,支持相变、热稳定性研究。

  6. 操作极简:一键测量,软件直观,无需专业培训。

六、应用场景

纳米材料、陶瓷、颜料、涂料、油墨、半导体浆料、锂电池材料、化妆品、生物医药(脂质体、纳米粒)、水处理等领域的颗粒粒径与分散稳定性分析。


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