OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50
OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50面向高通量纳米颗粒粒径分析的全自动测试平台,由 nanoSAQLA 主机与 AS50 自动进样器组成,主打50 样品连续自动测量,兼顾微量、高浓度及有机溶剂样品适配,测试速度快、无污染风险,适合科研与工业批量质控场景。一、基本信息品
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OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50
OTSUKA 大塚电子 多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50

品牌:OTSUKA 大塚电子
型号:nanoSAQLA AS50(主机 nanoSAQLA + 自动进样器 AS50)
核心功能:纳米颗粒粒径测量(无 ZETA 电位 / 分子量)
主机尺寸:240×480×375mm
供电:AC220V 50/60Hz,250VA
主机重量:约 18kg
粒径测量:动态光散射法(DLS,光子相关法)
光源:高功率半导体激光器(660nm,70mW)
检测器:高灵敏度 APD
测量范围:0.6nm~10μm(直方图分析可达 0.2nm)
样品浓度:0.00001%~40%(适配稀液至高浓度浆料)
样品用量:常规 1.2mL 起;微量池 20μL 起;AS50 配一次性池最小 0.4mL
测试时间:约 1 分钟 / 样品(高速自动定位)
温控范围:0℃~90℃(带温度梯度功能)
控温精度:±0.1℃
连续样品数:最多 50 个
样品池:玻璃一次性比色皿(适配有机溶剂)
进样量:最小 0.4mL
特殊功能:测量中可追加样品,无需停机
温控范围:15℃~40℃(AS50 模块)
高通量自动测量:AS50 实现 50 样品连续测试,中途可加样,效率高。
无污染设计:独立样品池 + 一次性耗材,杜绝交叉污染。
宽适配能力:0.6nm~10μm 粒径、0.00001%~40% 浓度,兼容有机溶剂。
高速精准:1 分钟 / 样品,高灵敏度 APD,数据重现性 ±2%。
宽温域梯度:0℃~90℃温控,支持相变、热稳定性研究。
操作极简:一键测量,软件直观,无需专业培训。