OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径测试系统 ELSEneoSE
OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径测试系统 ELSEneoSEOTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径测试系统 ELSEneoSE新一代模块化检测设备，标配 ZETA 电位与颗粒粒径检测，支持功能拓展，抗干扰能力强，适配高盐、高浓度样品及温度相关测试，广泛应用于材料、生物、化工等领域。一、基本信息品牌：OTSUKA 大塚电子型号：ELSZneoSE标配功能：ZETA 电位、颗粒粒
OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径测试系统 ELSEneoSE
OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径测试系统 ELSEneoSE
新一代模块化检测设备，标配 ZETA 电位与颗粒粒径检测，支持功能拓展，抗干扰能力强，适配高盐、高浓度样品及温度相关测试，广泛应用于材料、生物、化工等领域。
一、基本信息
品牌：OTSUKA 大塚电子
型号：ELSZneoSE
标配功能：ZETA 电位、颗粒粒径检测，分子量为选配模块
整机尺寸：330×565×245mm
供电规格：AC220V±10%，额定功率 250VA
二、检测原理
颗粒粒径：动态光散射法
ZETA 电位：激光多普勒电泳光散射法
三、技术参数
- 测量范围粒径：0.6nm~10μmZETA 电位：-200mV~+200mV样品浓度：粒径检测 0.00001%~40%，电位检测 0.001%~40%常规进样量：130μL，可选配 3μL 超微量样品池
- 温控参数温控区间：0℃~90℃，支持温度梯度扫描测试控温精度：±0.1℃
- 光学配置光源：大功率半导体激光器检测器：高灵敏度 APD 检测器
四、产品概述
本设备为升级款双功能测试仪，采用模块化设计，基础配置即可完成粒径与 ZETA 电位检测，后续可根据需求加装功能模块。设备可直接检测高浓度、高盐样品，无需稀释；配备多款样品池，满足不同样品用量需求。搭载电渗流自动校正技术，有效提升检测准确度，宽温控制系统可完成样品相变、热稳定性等试验，整体运行稳定，适用性广泛。
五、使用规范
设备放置在平稳、避光位置，远离震动源与强电磁环境。
测试样品需保证洁净，根据样品特性选用对应规格样品池。
设备运行过程中，禁止触碰光路及检测腔体。
严格在额定温度区间内设置参数，禁止超温使用。
单次测试结束后及时清洁样品池，长期闲置做好防尘防护。
六、使用方法
接通电源，启动仪器，等待设备预热完成。
选择检测项目，设置温度、测试时长等相关参数。
将待测样品装入样品池，放置至指定检测工位。
启动检测程序，测试完成后读取并保存数据。
取出并清理样品池，检查设备状态后关闭电源。
七、产品特点
模块化设计，基础功能齐全，可按需拓展检测项目，灵活性高。
适配浓度范围广，高浓度、高盐体系样品可直接检测。
多重样品池可选，满足常规、微量、超微量不同进样需求。
自带校正功能，检测数据精准，稳定性佳。
控温范围广、精度高，可开展温度相关特性研究。
光学结构优化，抗干扰能力强，适配复杂测试环境。
八、应用场景
适用于纳米材料、胶体溶液、高分子乳液、生物医药制剂、涂料油墨、半导体浆料、水处理药剂等行业，用于分析颗粒分散性、胶体稳定性、材料表面电性等指标。