OTSUKA 大塚电子

OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量ELSZ-2000Z

OTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量ELSZ-2000ZOTSUKA 大塚电子 ZETA电位·粒径·分子量ELSZ-2000Z专业一体化检测设备,主打 ZETA 电位与颗粒粒径两项检测功能,采用激光散射检测技术,样品适配性强、温控精准,适用于胶体、纳米材料、化工、生物医药等领域的样品物性检测。一、基本信息品牌:OTSUKA 大塚电子型号:ELSZ-2000Z检测功能:ZETA 电

OTSUKA 大塚电子  ZETA电位·粒径·分子量ELSZ-2000Z

OTSUKA 大塚电子  ZETA电位·粒径·分子量ELSZ-2000Z




专业一体化检测设备,主打 ZETA 电位与颗粒粒径两项检测功能,采用激光散射检测技术,样品适配性强、温控精准,适用于胶体、纳米材料、化工、生物医药等领域的样品物性检测。

一、基本信息

  • 品牌:OTSUKA 大塚电子

  • 型号:ELSZ-2000Z

  • 检测功能:ZETA 电位、颗粒粒径(不含分子量检测)

  • 整机尺寸:380×600×210mm

  • 设备重量:约 22kg

  • 供电规格:AC100V±10%,额定功率 250VA

二、检测原理

  • 颗粒粒径:动态光散射法

  • ZETA 电位:激光多普勒电泳光散射法

三、技术参数

  1. 测量范围粒径:0.6nm~10μmZETA 电位:-200mV~+200mV样品浓度:粒径检测 0.00001%~40%,电位检测 0.001%~40%最小进样量:130μL
  2. 温控配置温控区间:0℃~90℃,支持温度梯度测试控温精度:±0.1℃
  3. 光学组件光源:大功率半导体激光器检测器:高灵敏度 APD 检测器

四、产品概述

本款为双功能检测仪器,可同步完成粒径与 ZETA 电位测试。设备支持高浓度样品直接检测,无需过度稀释;搭配一次性微量样品池,减少样品消耗,同时避免样品交叉污染。仪器搭载电渗流自动校正功能,保障电位检测数据精准,宽温设计可满足样品相变、热稳定性等相关测试需求,也可适配高盐体系样品检测。

五、使用规范

  1. 设备放置在平稳避光区域,远离强电磁干扰与震动源。

  2. 样品需保证洁净无杂质,按要求选用对应规格样品池。

  3. 检测过程中不得触碰光路及检测腔体,防止影响检测结果。

  4. 严格遵循温度设置范围,禁止超温运行。

  5. 每次测试完成后及时清理样品池,长期闲置做好防尘处理。

六、使用方法

  1. 接通电源,启动仪器,等待设备完成预热。

  2. 选定检测项目,设置温度、检测时长等相关参数。

  3. 向样品池加入待测样品,将样品池放置在指定检测位置。

  4. 启动检测程序,检测结束后读取并保存数据。

  5. 取出并清理样品池,确认设备无异常后关闭电源。

七、产品特点

  1. 双功能集成,一台设备完成两项核心检测,使用便捷。

  2. 浓度兼容范围广,高浓度、高盐样品均可直接测量。

  3. 微量进样设计,节约样品,一次性样品池卫生防污染。

  4. 自带数据校正功能,检测精度高,数据稳定性好。

  5. 温控范围广且控温精准,可开展温度相关特性分析。

  6. 检测响应速度快,适配批量样品检测场景。

八、应用场景

广泛用于纳米材料、胶体化工、涂料油墨、生物医药、电子材料、水处理等行业,主要评估颗粒分散状态、胶体稳定性等指标。


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