ONOSOKKI小野测器 微观物体振动与测量系统 LV-0185

一、产品概述

二、详细参数

1. 光源类型与光学形式采用落射照明方式，光线沿激光同轴方向投射至被测物体，避免侧面光照产生阴影；光源亮度稳定，无频闪现象，不干扰图像采集与振动信号检测。
2. 适配规格可与 LV-1800 传感头、LV-0181 相机模块、全系显微物镜搭配使用，光学光路相互匹配，不遮挡激光路径。
3. 调节功能支持亮度连续可调，可根据被测物件材质、表面反光程度、放大倍率灵活调节光照强度，兼顾高反光工件与低反光薄膜类工件使用需求。
4. 供电方式由系统主机统一供电，无需外接独立电源，线路布局简洁。
5. 环境参数工作温度 0℃～40℃；工作湿度 30%～80% RH，使用环境禁止结露。

三、整套系统搭配组成

1. LV-1800 激光多普勒振动计主机：完成激光发射、振动信号解调与数据运算。

2. LV-0181 内置定位相机模块：实时成像，实现测点可视化定位。

3. LV-0185 照明单元：提供同轴补光，提升微观区域成像质量。

4. 显微物镜（可选）：5 倍、10 倍、20 倍多款镜头，实现不同倍率放大观测。

5. 精密位移台（可选）：多轴微调，完成微米级测点移位定位。

四、产品特点

1. 同轴落射设计：光线与激光、摄像光路保持同轴，微观视野光照均匀，有效消除死角与阴影，保证画面完整清晰。

2. 亮度无级调节：适配不同材质、不同放大倍数的观测场景，避免强光反光或光线昏暗影响观测。

3. 无干扰设计：光源运行无频闪、无杂散光，不会对激光检测、图像采集造成干扰，保障测量精度。

4. 一体化装配：模块化结构，可直接安装在激光传感头前端，拆装简便，与原有设备兼容性良好。

5. 适配性广：可搭配全系列显微物镜使用，满足从常规微距到高倍显微的各类观测需求。

五、应用场景

1. 微机电产品检测：MEMS 器件、微型传感器、微驱动器等高倍观测与振动测试补光。

2. 声学元件测试：扬声器振膜、麦克风膜片、压电陶瓷等超薄、微小构件成像照明。

3. 精密电子检测：电路板微型元器件、光学薄膜、镜片等低反光或高反光工件观测。

4. 科研实验：超薄材料、微细结构、微型试样在显微工况下的视觉辅助观测。

5. 工业质检：小型精密冲压件、微型传动零件出厂检测时的点位取景补光。