【高斯摩】NDK电磁测器 磁粉探伤装置 MB 3.0 Selena

【高斯摩】NDK电磁测器 磁粉探伤装置 MB 3.0 Selena

【高斯摩】NDK电磁测器 磁粉探伤装置 MB 3.0 Selena

一种照射紫外线的光（紫外线探伤灯），用于磁粉探伤的观察过程。 以 365 nm 为中心的 UV-A 波长用作紫外线波长。

在磁粉检测中，当试件在暗室中用黑光照射时，荧光液和荧光磁粉的指示图案会发出清晰的光，从而可以检测到微小的划痕。

便携式

MB 3.0 Selena [电池/外部电源连接]

它可以在没有电缆（电池）的情况下使用，也可以在连接电缆的情况下充电

用于检查电池电量的电池指示器

由 4 个 LED 组成，提供稳定的紫外线

引导白光在中心。 开/关（仅限赛琳娜）

没有冷却风扇。 机械冷却用途

约 8000 μW/cm2，照射距离为 380 mm （Selena）

照射距离为380mmφ200mm时，照射范围为1000μW/cm2以上

外部电源（100-240V 可用）

电池：电源 3.7V 可充电锂电池，带 2 个充电器

单位尺寸：70 x 100 x 175mm

重量：约680g

基本介绍：原理与核心构成

磁化装置：

直接通电法： 电极触头、接触板，使电流直接通过工件产生周向磁场（检测纵向缺陷）。

感应法（磁轭）：

电磁轭： 交流/直流，便携式，产生纵向磁场（检测横向及斜向缺陷），可带活动关节。

永久磁轭： 无需电源，但磁场强度不可调，提离影响大，安全性差（不易脱离）。

线圈法： 将工件或部分置于线圈中，通电磁化产生纵向磁场（检测周向缺陷）。

中心导体法： 将导体穿过空心工件中心通电磁化，产生周向磁场（检测内/外壁纵向缺陷）。

复合磁化装置： 同时或先后施加两个方向（如周向+纵向）的磁场，实现一次磁化检测多方向缺陷（固定式设备常见）。

磁粉施加系统：

磁粉： 关键显示介质。

类型： 干粉（用于粗糙表面、高温检测）、湿粉（悬浮液，灵敏度高，应用广）。

颜色： 黑、红、白、黄（高对比度）及荧光粉（紫外灯下极高灵敏度）。

性能： 高导磁率、低矫顽力、粒度适中、悬浮性好、无毒性。

喷洒设备： 喷枪（干/湿粉）、喷淋系统（湿粉固定式设备）、浇注瓶（湿粉）。

观察系统：

白光照明： 用于非荧光磁粉，照度需≥1000 lux。

紫外灯（黑光灯）： 用于荧光磁粉，中心波长365nm，工件表面紫外辐照度≥1000 μW/cm²（新标准可能更高），暗室环境白光≤20 lux。

（必备）退磁装置： 检测后必须消除工件剩磁（防止干扰运行、吸附铁屑），常用线圈式或磁轭式交流衰减退磁器。

辅助工具： 灵敏度试片（A型、C型、D型等）、磁场指示器（八角试块）、照度/辐照度计、特斯拉计等。