【高斯摩】 TOKIMEC东机美 材料检测系统 M-CAP V2

【高斯摩】 TOKIMEC东机美 材料检测系统 M-CAP V2 

【高斯摩】 TOKIMEC东机美 材料检测系统 M-CAP V2 

材料检查系统 M-CAP V2 是充分利用最新图像处理技术开发的无基础视觉检查系统。

它保留了过去的易用性，但实现了更高的速度和更高的分辨率。 除了检测针孔、异物污染和污垢粘附等微小缺陷外，我们不会忽视难以识别的缺陷，例如薄膜材料上的不均匀、条纹和划痕。

长处

无论安装位置如何，都可以灵活布局集成单元的

主机控制面板已被拆除，并配置了每个功能的组件。

它提高了安装的自由度，有助于有效利用工厂空间。

用户友好的易用性

LCD 显示器和易于使用的交互模式使其易于作。

新设计的成像系统实现高速和高分辨率

新开发的数码相机可在高速运输过程中实现清晰的图像和微小缺陷的检测。

专有 LED 照明作为标准设备 采用我们专有的 LED 照明，可实现

高亮度和高显色性。

还可以对鱼眼（凝胶）和黑点进行分类，由于专用结构，这些斑点很难判断。

即使放大，也有缺陷的图像也能清晰

显示 AI 驱动的超分辨率技术确保即使放大有缺陷的图像，图像也不会有颗粒感。

通过大量数据管理简化质量控制 可以实时汇总每

列和距离的按大小划分的缺陷数，并将数据输出为 PDF 文件。

它还支持基于网络的数据管理功能，有助于提高质量控制效率和提高生产率。

大大扩展了检查功能 通过同时检查

最多 5 个电路处理，大大提高了检查性能。

线性缺陷检测电路增强了对皱纹、膜裂缝、头发、棉绒等的检测。

此外，光缺陷检测电路增强了对大面积的轻污垢和不均匀面积的轻污垢的检测。

应用领域

应用：

薄膜、片材、无纺布、金属、各种涂膜等。

适应机械：

薄膜、片材制造机等。