【高斯摩】HAMAMATSU滨松 CCD面阵图像传感器S10202-08-01

【高斯摩】HAMAMATSU滨松 CCD面阵图像传感器S10202-08-01

【高斯摩】HAMAMATSU滨松 CCD面阵图像传感器S10202-08-01

产品概述

【高斯摩】HAMAMATSU 滨松 S10202-08-01 是背照减薄型 TDI-CCD 时间延迟积分图像传感器，8 通道并行读出，依靠 TDI 同步积分，在高速扫描工况下维持高信噪比，紫外波段量子效率优异，石英窗口、非冷却陶瓷封装，适合高速移动目标弱光高精度线扫检测。

核心参数

• 有效像素：4096 × 128 像素

• 像素尺寸：12 μm × 12 μm

• 感光区域：49.152 mm × 1.536 mm

• 光谱响应范围：200 nm～1100 nm

• 典型行频：50000 lines/s

• 读出方式：8 端口并行读出

• 暗电流：典型 30 e⁻/pixel/s

• 读出噪声：典型 35 e⁻ rms

• 光学窗口：石英玻璃

• 冷却方式：非冷却

• 封装：陶瓷 DIP 封装

• 工作温度：-50 ℃ ~ +60 ℃

• 存储温度：-50 ℃ ~ +70 ℃

产品特点

1. 水平 4096 像素，为本系列分辨率最高一档，8 通道并行读出，兼顾高分辨率与高速扫描能力

2. 背照减薄工艺，紫外到近红外宽波段量子效率高，石英窗口紫外透过性能优秀

3. TDI 时间延迟积分架构，电荷转移与工件运动严格同步，高速线扫时信噪比显著提升

4. 支持双向电荷转移，适配正反两个走带方向的扫描设备

5. 陶瓷气密封装，长期连续工作稳定性强，适合工业产线不间断检测

6. 同系列区分：S10200-02-01（1024 像素 / 2 通道）、S10201-04-01（2048 像素 / 4 通道）、S10202-08-01（4096 像素 / 8 通道）、S10202-16-01（4096 像素 / 16 通道，最高行频 100kHz）

应用场景

超高分辨紫外高速线扫缺陷检测、半导体晶圆表面瑕疵检查、锂电隔膜在线探伤、薄膜与卷材表面检测、印刷品高速质检、高速荧光采集、科研紫外分光平台。

使用注意事项

1. TDI 芯片对驱动时序、运动同步控制要求严苛，必须搭配专用驱动方案

2. CCD 器件静电敏感，焊接、光路装配全程做好防静电防护

3. 石英窗口带有增透膜，禁止磕碰、划伤、污染窗口表面

4. 器件时钟和输送速度需要精准匹配，时序失配会造成图像模糊、拖影伪影

5. 选型区分：高速运动弱光检测选本 TDI 系列；稳态分光选用 S7030/S7031；简易低速采集选用 S8377/S8378 CMOS 线阵