【高斯摩】MEIJI明治 偏光显微镜ML9200 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 偏光显微镜ML9200 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 偏光显微镜ML9200 日本原装

产品概述ML9200 属于 ML9000 系列正立式双目透射偏光显微镜，搭载无限远无应变光学系统，配备 SM Plan 无应变平场物镜，采用 6V30W 卤素科勒透射照明，专门用于具备双折射特性的晶体、矿物岩片、高分子薄膜、纤维试样的偏光观测。整套光学消除镜头内应力干扰，保障干涉色、消光角测量准确，日本原装机型；与 ML9200L 核心差异为光源，ML9200 采用卤素光源。

核心参数光学系统：无限远校正光学系统； 目镜：HWF10X 宽视野目镜 2 支，视场数 FN20； 物镜：SM Plan 无应变平场物镜 4X、10X、40XS； 总放大倍率：40X～400X； 镜筒：30° 倾斜双目 Siedentopf 镜筒，瞳距调节 52~72mm； 物镜转盘：4 孔滚珠轴承式中心可调转塔； 载物台：直径 150mm 陶瓷涂层 360° 旋转圆形载物台，带游标刻度； 调焦机构：同轴粗 / 微调焦，微调最小刻度 2μm，带防滑离合器与样品防撞保护； 聚光镜：无应变阿贝偏光聚光镜 NA1.25，带虹膜光阑； 偏光组件：可旋转起偏器、推拉式检偏器，补偿片插槽，标配一阶红板、1/4 波片，内置伯特兰透镜； 照明：6V30W 卤素科勒透射光源，亮度连续可调； 供电：100~240V 宽电压自适应；整机重量 7.3kg。

产品特点全套无应变光学设计，消除镜头自身内应力干扰，可清晰识别晶体干涉色、晶粒结构、高分子薄膜内部应力，测量稳定可靠。 360° 带游标旋转载物台，旋转试样，搭配伯特兰透镜开展锥光干涉观测，用于晶体光性判定。 卤素科勒透射照明，光通量充足，色彩还原自然，适合长时间矿物、晶体样本镜检。 低位同轴粗微调焦，操作舒适，长时间检测不易疲劳，带防撞保护，防止物镜挤压样品。 陶瓷耐磨载物台，抗腐蚀，样品碎屑清理简单。 4 孔物镜转塔，预留空位可加装其它物镜；可升级三目镜筒，C 接口兼容明治 HD、DK 系列 C 口显微相机。 模块化机身，配件选配灵活，可按需选配各类补偿片。

应用场景岩石矿物薄片鉴定、晶体光学分析、高分子薄膜应力检测、纤维材料观测、法医物证检验、塑料材料质检，适用于地质实验室、高分子研发、材料失效分析、高校岩相科研。

使用注意事项物镜转塔、调焦旋钮轻柔转动，禁止强行拧动，防止齿轮导轨受损； 偏光组件、波片属于精密光学件，禁止触碰光学镜面； 光学镜片仅可用专用擦镜纸清洁，严禁普通纸巾擦拭； 卤素光源工作温度较高，闲置及时关闭，延长灯泡寿命； 搬运整机托住底座，不要提拉镜筒，防止光路偏移； 长期存放保持干燥防尘，防止镜片发霉。