【高斯摩】MEIJI明治 偏光显微镜MT9200L 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 偏光显微镜MT9200L 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 偏光显微镜MT9200L 日本原装

产品概述MT9200L 属于 MT9000 系列正立式双目透射偏光显微镜，搭载 ICOS 无限远无应变光学系统，配套无应变 S.Plan 平场物镜，采用 LED 科勒透射照明，专门用于晶体、矿物、高分子纤维、塑料薄膜等具有双折射特性试样的偏光观测。整套光学组件无内应力，可精准观察晶体形态、晶粒、内部应力，日本原装机型，地质、材料行业经典偏光设备。

核心参数光学系统：无限远校正光学系统，F=200mm； 目镜：KHW10X 宽视野目镜 2 支，视场数 FN20； 物镜：无应变 S.Plan 平场物镜 4X、10X、40XS； 总放大倍率：40X～400X； 镜筒：30° 倾斜双目 Siedentopf 镜筒，瞳距调节 53~75mm； 物镜转盘：4 孔滚珠轴承反向转塔； 载物台：360° 可旋转圆形陶瓷载物台，带游标刻度，分度 0.1°； 调焦机构：同轴粗 / 微调焦，微调最小刻度 2μm，带张力调节与样品防撞限位； 聚光镜：无应变阿贝偏光聚光镜 NA1.25，带虹膜光阑； 偏光组件：可旋转起偏器、推拉式检偏器，内置补偿片插槽，标配一阶红板、1/4 波片，带伯特兰透镜； 照明：LED 科勒透射光源，亮度连续可调； 供电：100~240V 宽电压自适应。

产品特点全套无应变光学设计，消除镜头自身应力干扰，保证偏光观察结果准确，可清晰识别晶体干涉色、晶粒结构、高分子材料内部应力。 360° 旋转载物台带精密游标，旋转观察试样，测量消光角，用于矿物岩相、晶体鉴定。 集成伯特兰透镜，可直接观测锥光干涉图，用于晶体光性判定。 LED 一体化科勒照明，色温稳定、发热量低，光源寿命长。 低位同轴粗微调焦，操作省力，长时间检测不易疲劳，防撞保护避免挤压样品。 模块化机身，可升级三目镜筒，C 接口外接显微相机，实现图像采集、测量存档。

应用场景岩石矿物薄片鉴定、晶体光学分析、高分子薄膜应力检测、纤维观测、法医物证分析、塑料材料质检、地质教学科研，适用于地质实验室、高分子材料研发、材料失效分析、高校岩相实验室。

使用注意事项物镜转塔、调焦旋钮轻柔转动，禁止强行拧动，防止齿轮导轨受损； 偏光组件、波片为精密光学件，不可触碰光学面； 光学镜片仅可用专用擦镜纸清洁，严禁普通纸巾擦拭； LED 光源闲置及时关闭，延长光源寿命； 搬运整机托住底座，不要提拉镜筒，防止光路偏移； 长期存放保持干燥防尘，防止镜片发霉。