【高斯摩】MEIJI明治 冶金显微镜MT8520 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 冶金显微镜MT8520 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 冶金显微镜MT8520 日本原装

产品概述MT8520 属于 MT8500 系列正立式双目金相显微镜，采用无限远校正光学系统，搭载落射 + 透射双科勒卤素照明，配备 Plan Epi BD 明暗场专用物镜。同时支持明场、暗场以及简易偏光观测，兼顾不透光金属样品的反射观测，与薄膜、切片类透明样品透射观测。相比 MT8000 系列新增暗场检测功能，暗场模式可检出明场难以识别的微小划痕、析出物、细微裂纹，日本原装高端金相机型，适用于材料微观缺陷与组织分析。

核心参数光学系统：无限远校正光学系统，F=200mm； 目镜：SWH10X 高眼点目镜 2 支，视场数 FN22； 物镜：Plan Epi BD 明暗场物镜 5X、10X、20X、50X； 总放大倍率：50X~500X； 镜筒：30° 倾斜双目 Siedentopf 镜筒，瞳距调节 53~75mm； 物镜转盘：5 孔滚珠轴承式反向转塔； 载物台：陶瓷涂层固定式平台，XY 移动行程 100mm×100mm，支持左右手操控； 调焦机构：低位同轴粗 / 微调焦，微调最小刻度 2μm，带张力调节、样品防撞限位，调焦行程 23mm； 照明：垂直落射 12V50W 卤素光源 + 底座透射 6V30W 卤素光源，双光源亮度独立可调；内置视场光阑、孔径光阑，标配蓝、绿、ND50 中性滤光片与偏光滤片； 供电：100~240V 宽电压自适应。

产品特点无限远 Plan Epi BD 明暗场合一物镜，一套物镜切换明场、暗场两种模式，暗场大幅提升微小缺陷对比度，捕捉普通明场看不到的微细瑕疵。 双光源一体化设计，落射光检测金属、镀层、晶圆；透射光检测透明薄膜、纤维、切片，一台设备覆盖两类试样检测。 支持简易偏光观测，用于晶粒组织、矿物试样偏光分析。 低位同轴粗微调焦，操作省力，长时间观测不易疲劳，带防撞保护，防止物镜挤压损伤样品。 陶瓷耐磨耐腐蚀载物台，抛光碎屑容易清理。 5 孔反向物镜转塔，预留空位可加装 100X 高倍物镜；可升级三目镜筒，搭配 C 接口显微相机，实现图像采集、测量存档。

应用场景金属金相组织分析、晶粒评级、微小裂纹 / 夹杂物检测、电镀镀层微观观察、半导体晶圆表面缺陷检查、高分子薄膜、矿物试样观测，适用于热处理、电镀、材料失效分析、精密零部件质检实验室。

使用注意事项物镜转塔、调焦旋钮轻柔转动，禁止强行拧动，防止齿轮导轨受损； 落射、透射卤素光源工作温度高，不使用时及时关闭，延长灯泡寿命； 光学镜片仅可用专用擦镜纸清洁，严禁普通纸巾擦拭，保护光学镀膜； 陶瓷载物台避免硬物撞击，及时清理金相抛光粉末； 搬运整机托住底座，不要提拉镜筒，防止光路偏移； 长期存放环境保持干燥防尘，防止镜片发霉。