【高斯摩】MEIJI明治 冶金显微镜MT7530 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 冶金显微镜MT7530 日本原装

【高斯摩】MEIJI明治 冶金显微镜MT7530 日本原装

产品概述MT7530 为正立式三目金相（冶金）显微镜，属于 MT7500 系列，搭载无限远校正落射光学系统，标配 Plan Epi BD 明暗场共用物镜，支持明场、暗场、简易偏光三种观测模式。配备 12V50W 垂直科勒卤素落射照明，三目镜筒可同时进行双目目视观测，第三摄影端口外接显微相机，图像采集无需切换光路。专为金属、镀层、晶圆、矿物这类不透光样品微观检测设计，日本原装整机，暗场模式可捕捉明场难以识别的微小缺陷。

核心参数光学系统：无限远校正光学系统，F=200mm； 目镜：SWH10X 高眼点目镜 2 支，视场数 FN22； 物镜：Plan Epi BD 明暗场物镜 5X、10X、20X、50X； 总放大倍率：50X～500X； 镜筒：30° 倾斜三目镜筒 Siedentopf 结构，瞳距调节 53~75mm； 物镜转盘：5 孔滚珠轴承式转塔； 载物台：陶瓷涂层机械式载物台，XY 移动行程 100mm×100mm，可选择左手 / 右手操控； 调焦机构：同轴粗 / 微调焦，微调最小刻度 2μm，带张力调节、防碰撞保护，调焦行程 23mm； 照明：垂直科勒卤素光源 12V50W，亮度连续可调，内置视场光阑、孔径光阑，标配滤光片； 供电：100~240V 宽电压自适应。

产品特点无限远 Plan Epi BD 专用明暗场合一物镜，一套物镜即可切换明场与暗场观测，暗场模式可清晰显现样品表面微小划痕、析出物、微小裂纹，对比度大幅提升。 三目同步光路设计，可一边目视观察，一边直接输出图像至相机，方便拍照存档、屏幕共享与尺寸测量。 支持简易偏光观测，满足金属晶粒、矿物试样的偏光分析需求。 垂直科勒卤素照明，光通量充足，明暗场切换时光学稳定性好。 低位同轴粗微调焦，操作舒适，长时间检测不易疲劳，带有防撞击保护，避免物镜压坏试样。 陶瓷耐磨载物台，耐腐蚀，XY 移动顺滑，适合金相抛光样品、电镀试样、半导体晶圆检测。 模块化设计，C 接口摄影端口，可直接搭配明治 HD、DK 系列 C 口显微相机，配件选配灵活。

应用场景金属金相组织分析、微小裂纹与夹杂物检测、电镀镀层微观观察、半导体晶圆表面缺陷检查、矿物材料观测，适用于热处理实验室、电镀行业、精密零部件质检、材料失效分析，需要明暗场对比观测的场景。

使用注意事项物镜转塔、调焦旋钮轻柔转动，禁止强行拧动，防止齿轮、导轨受损； 卤素光源工作温度高，长时间不用及时关闭，延长灯泡寿命； 光学镜片仅可用专用擦镜纸清洁，严禁普通纸巾擦拭，保护镀膜； 陶瓷载物台避免硬物撞击，及时清理抛光粉末碎屑； 搬运整机托住底座，不要提拉镜筒，防止光路偏移； 长期存放保持干燥防尘，防止镜片发霉。