【高斯摩】MEIJI明治 Unimac独立显微镜套装MS-40DR/SAM1-P

【高斯摩】MEIJI明治 Unimac独立显微镜套装MS-40DR/SAM1-P

【高斯摩】MEIJI明治 Unimac独立显微镜套装MS-40DR/SAM1-P

产品概述MEIJI 明治 Unimac MS-40DR/SAM1-P 是一体式独立数字简易偏光显微镜成套设备，依托 MS-40DR 光学平台，集成全套偏光观测组件，包含透射 LED 照明支架、带刻度旋转载台、滑入式起偏器与可旋转检偏器。整机可脱离电脑主机独立运行，直接完成图像采集、视频录制，搭配鼠标即可执行长度、角度简易测量。镜头采用短后焦微距变焦光学结构，变焦全程保持齐焦，94mm 大工作距离，同时配备落射环形 LED 与透射白光 LED 双光源，兼顾不透光工件与透光薄片试样观测，主打工业现场与实验室简易偏光检测。

核心参数镜头变焦倍率 0.28~1.8 倍，屏幕综合放大倍率 13.8~88.7 倍； 搭载 11.6 英寸全高清液晶显示屏，分辨率 1920×1280； 图像传感器为 1/2.8 英寸 CMOS，1080P 30 帧实时成像，静态照片最高 3264×1836 像素（约 600 万像素）； 观测视野范围 18.4mm×10.5mm 至 2.8mm×1.6mm； 工作距离 94mm； 落射照明 10W 可调环形 LED，透射照明 3W 白光 LED； 旋转载台直径 150mm，刻度分度 1°； C 型镜头接口，自带光圈调节与倍率定位档位； 存储采用 SD 卡，配备 HDMI 视频输出、USB 接口。

产品特点全套偏光组件一体化装配，起偏器、检偏器拆装简便，检偏器支持旋转调节，可快速调节至消光位置，清晰捕捉晶体、纤维等样品的偏振特征。 独立一体机架构，HDMI 直连显示器，鼠标即插即用，拍照、录像、测量都在本机操作，无需配套电脑，节约工位空间。 宽视场光学系统，大视野能够完整观察岩石薄片类试样，旋转载台转动样品时画面延迟低，实时成像流畅。 模块化拓展能力强，可加装辅助物镜，倍率档位带定位卡扣，重复检测时可快速复位到指定倍率。 双照明模式自由切换，落射光用于金属、塑胶工件表面缺陷检查；透射光适配薄片、薄膜、晶体类透光样品。

应用场景可用于岩相薄片、高分子薄膜、纤维、晶体材料的偏光观察，同时支持电子元器件、塑胶件、金属零部件外观缺陷检测。 广泛应用在材料实验室、来料检验、产线质检、科研样品分析等场景。

使用注意事项偏光镜片、镜头镀膜较脆弱，仅允许使用专用擦镜纸清洁，禁止普通纸巾擦拭，防止划伤镀膜层； 透射 LED 光源不要长期满亮度持续点亮，延缓光源老化衰减； 旋转载台操作动作轻缓，避免碰撞光学组件； 设备存放环境保持干燥防尘，闲置时盖上防尘罩； 开展偏振观测时缓慢旋转检偏器，调整至最佳消光状态，获取高质量偏振图像； 搬运设备前锁定调焦机构，避免光学部件移位受损。