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【高斯摩分享】UV 工艺光强管控|USHIO 牛尾 UIT‑201 紫外照度计技术解析

2026-08-27 17:46:45 admin 1

【高斯摩分享】UV 工艺光强管控|USHIO 牛尾 UIT‑201 紫外照度计技术解析

【高斯摩分享】UV 工艺光强管控|USHIO 牛尾 UIT‑201 紫外照度计技术解析

产品概述

UIT‑201 属于 UNIMETER 系列便携式紫外照度计,采用主机与可更换受光探头分体式结构,搭配不同受光器,可完成 365nm、405nm 主流紫外波段辐照度检测,支持实时照度、峰值照度、累计光量测量。设备机身轻薄小巧,兼顾现场手持点检与在线模拟信号输出,是 UV 固化、PCB 光刻曝光、UV‑LED 光源校验领域常用检测仪器,多用于产线光源点检、设备验收、工艺条件确认。

工作原理

受光探头内部集成窄带干涉滤光片与硅光电二极管,滤光片过滤可见光以及非目标波段杂散光,只允许目标波长紫外光线进入光电传感器。紫外线照射光电二极管产生光电流,输出信号大小和紫外辐照度成正比,主机电路对信号放大处理,经过 CAL 灵敏度校正换算,输出照度数值。仪器每秒 32 次高速采样,50ms 快速响应,捕捉光源瞬时强度波动;同时具备光量积分运算,统计累计曝光能量;0‑1.999V 模拟电压输出,可外接记录仪实现长时间连续采集。

核心技术参数

显示:4 位 LCD 液晶显示屏
测量功能:实时照度、峰值照度、累计光量,照度分布测量
量程切换:高、中、低三档,手动 / 自动切换
采样速率:32 次 / 秒
响应速度:约 50ms
模拟输出:0‑1.999V,输出阻抗 2kΩ 以下
可配探头:UVD‑365PD(365nm 波段)、UVD‑405PD(405nm 波段)
标配线缆:2 米,支持选购延长线缆
供电:3 节 AAA 七号电池,连续使用约 45 小时;可选 AC 适配器外接供电
外形尺寸:80mm×180mm×19mm
整机重量:约 150g(不含探头线缆)
工作环境:0‑50℃,湿度 10‑85% RH,无凝露
校正方式:CAL 灵敏度数值手动调整补偿探头衰减

产品核心优势

模块化可更换探头,一机覆盖多波段一台主机更换不同受光器,即可完成 365nm 高压汞灯、UV‑LED 以及 405nm 曝光光源检测,不用采购多台整机,降低仪器投入成本。

分体探头设计,适配狭小设备内部测量探头与主机分离,探头体积小巧,可以伸入固化炉、曝光腔体内部测量,主机放置外部,避免高温烘烤,标配 2 米线缆,支持远距离点位检测。

高速采样响应,捕捉瞬时光强变化32 次每秒采样,50ms 响应速度,适合脉冲式 UV 光源、快速移动产线光斑检测,可抓取峰值照度,避免漏过瞬时光强波动。

具备模拟输出,支持在线连续监测0‑1.999V 线性模拟输出,对接数据记录仪,记录长时间照度变化曲线,用于产线工艺监控、光源老化趋势跟踪。

轻薄便携,双供电模式主机厚度仅 19mm,重量轻,手持外出巡检方便;干电池适合现场巡检,选配适配器可台式长期连续测试。

灵敏度 CAL 校正功能支持手动输入 CAL 校正值,补偿探头长期使用后的灵敏度衰减,维持测量精度,延长探头使用寿命。

功能丰富,满足工艺管控需求同时读取实时照度、峰值、累计光量,既可以单点快速点检,也可统计曝光总能量,适配 UV 胶固化、光刻曝光工艺管控。

主要应用场景

电子行业 UV 胶、UV‑LED 点线面固化光源点检;
印刷涂装 UV 油墨、UV 涂料固化工艺光强监测;
PCB、半导体光刻设备 365nm、405nm 曝光光源校验;
光学镜头、摄像头模组粘接固化工艺检测;
高压汞灯、紫外清洗设备光源定期维护检测;
高校实验室紫外光源性能测试;
UV 设备进厂验收、老化趋势评估。

使用注意事项

主机仅为测量本体,必须选配对应波长探头方可开展测量;探头光学窗口避免手指触碰,灰尘油污会直接造成测量偏低;探头属于光学消耗件,使用周期后需要做计量校准;避免探头长时间暴露超高紫外辐照下,加速传感器老化;测量时探头垂直对准光源;远离高温环境,探头温度不可超过规格上限;闲置状态做好防尘保护;电池长期不使用需要取出电池;定期做比对校准,保障测量数据可靠性。

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