【高斯摩】AEMIC爱美克 AE-163L 高速超高精度数字电阻检查器
【高斯摩】AEMIC爱美克 AE-163L 高速超高精度数字电阻检查器
【高斯摩】AEMIC爱美克 AE-163L 高速超高精度数字电阻检查器
一、产品简介
二、核心参数
品牌：AEMIC 爱美克
型号：AE-163L
测量对象：0201/03015 超微型芯片电阻、B/C/D/F/G/J/K 级芯片电阻、MELF 电阻、径向 / 轴向精密电阻
测量量程：绝对值 0.00mΩ~125.00MΩ；百分比 5mΩ~109MΩ（-99.99%~+25.00%）
测量精度：基本精度 ±0.005%，分辨率 10ppm
测量速度：高速响应，各量程积分时间可调
核心技术：热电动势抵消技术、模拟 / 数字电路隔离抗干扰
通讯接口：标配 RS-232C、Centronics（打印机）；可选 GP-IB
功能特性：测量前后接触检查可选、设定数据同步传输、电流 / 电压异常自检、探针自清洁
使用环境：温度 10℃~40℃，相对湿度≤80% RH（无结露）
三、核心优势
超高精度，稳定可靠：分辨率达 10ppm，基本精度 ±0.005%；热电动势抵消技术消除温漂误差，电路隔离设计强抗电磁干扰，长期测量一致性强。
高速测量，适配量产：积分时间可调，兼顾速度与精度，适配超微型电阻高速分选、编带流水线，满足大批量 100% 全检需求。
宽量程覆盖，多模式适配：毫欧至兆欧级全覆盖，支持绝对值 / 百分比双模式，兼容各类精密电阻规格。
自动化集成便捷：标配 RS-232C 接口，支持多机参数同步传输；自带探针自清洁与异常自检功能，适配自动化产线无人值守场景。
接触检测可选，降低误判：可选择测量前 / 后接触检查或关闭，适配 0201 等超微小元件测试需求，减少接触不良导致的误测。
四、应用领域
电子元件制造：0201/03015 超微型芯片电阻、B/C/D/F/G/J/K 级芯片电阻的出厂精密分选与质检。
精密电阻行业：MELF 电阻、径向 / 轴向绕线电阻、薄膜电阻的高精度测试与批次质控。
自动化产线：高速编带机、分选机配套，实现超精密元件全检。
科研与高端质控：实验室精密电阻标定、高端电子设备研发测试、严苛品质管控场景。
五、使用与养护
设备安置于平稳、干燥、无振动区域，远离强电磁干扰源。
测量前根据元件规格设置量程与积分时间，启用接触检查与探针自清洁功能确保测试稳定。
定期执行精度校准，检查测试探针状态，及时更换磨损探针。
避免在高温高湿环境长期运行，保持设备通风散热，延长使用寿命。
联机使用时确保通讯接口连接牢固，参数同步传输后复核设定值。