NITTOSEIKO日东精工

【高斯摩】NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统紧凑型映射系统MCP-S330型号

2026-07-06 17:38:16 admin 1

【高斯摩】NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统紧凑型映射系统MCP-S330型号

【高斯摩】NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统紧凑型映射系统MCP-S330型号




一、产品简介

MCP-S330 是日东精工推出的紧凑型全自动低电阻率测绘系统,核心用于导电薄膜、金属及 ITO 薄膜等材料的表面 / 体积电阻率分布高精度映射。搭配 Loresta GX 系列主机,实现宽量程、自动化、可视化测量,紧凑机身适配实验室与产线质控,可对最大 300mm×300mm 样品进行连续扫描与多样品批量测试。

二、技术参数

  • 品牌:NITTOSEIKO 日东精工(日东精工分析科技)

  • 型号:MCP-S330

  • 测量原理:四端子四探针法

  • 测量项目:表面电阻率(Ω/□)、体积电阻率(Ω・cm)

  • 配套主机:Loresta GX(MCP-T710)

  • 电阻率量程:10⁻⁴~10⁷ Ω

  • 最大样品尺寸:300mm×300mm

  • 测量定位方式:网格输入、直线输入、顺序输入,支持外部坐标导入

  • 自动化功能:测量、计算、数据处理、3D 图形输出全自动化

  • 比较器功能:屏幕标注超量程测量点

  • 数据接口:USB

  • 电源:AC100–240V(50/60Hz),功率 63VA

  • 外形尺寸:543×492×410mm

  • 设备重量:约 22kg

  • 使用环境:10–40℃,湿度≤80% RH(无结露)

三、核心优势

  1. 精密测绘,分布可视化:精准表征表面 / 体积电阻率分布,直观呈现 ITO 膜、导电涂层等材料的膜厚与成分均匀性,3D 图谱一键生成。

  2. 宽量程适配,通用性强:搭配 Loresta GX 覆盖 10⁻⁴~10⁷ Ω,适配低阻金属、高阻导电薄膜等各类低阻材料。

  3. 大尺寸兼容,批量高效:支持 300mm 见方样品扫描,可连续测量多个样品,定位方式灵活,适配研发与量产抽检。

  4. 全自动运行,操作极简:从定位扫描到数据输出全程自动化,减少人为误差,提升测试效率。

  5. 紧凑型设计,场景灵活:体积小、重量轻,适配实验室台面与产线空间,安装调试便捷。

  6. 数据追溯便捷:USB 接口快速导出数据与图谱,支持 SOP 流程记录,满足质控追溯需求。

四、应用领域

  • 显示行业:LCD/OLED 电极基板、ITO 玻璃 / 薄膜、导电膜均匀性检测。

  • 电子材料:金属箔、导电涂层、导电胶、柔性电路薄膜。

  • 新能源:锂电池集流体、导电薄膜电极材料、固态电解质表面电性测试。

  • 精密制造:半导体晶圆、磁性材料、薄膜电阻器、传感器涂层。

  • 科研质控:高校 / 企业研发材料电性表征、生产过程批次一致性检测。


首页
产品
新闻
联系